[发明专利]基于电导率的次生孔隙有效性评价方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种基于电导率的次生孔隙有效性评价方法，其特征在于，包括：

根据电导率及所述电导率在若干第一电导率区间内的频数得到电导率分布谱；其中，所述根据电导率及电导率在第一电导率区间内的频数得到电导率分布谱的方法，包括：获取缝洞分割图像及提取所述缝洞分割图像的缝及/或洞；确定所述缝及/或洞的电导率；将所述电导率的范围按照设定区间个数进行划分得到若干第一电导率区间；分别统计所述若干第一电导率区间内的频数；根据所述电导率及所述频数得到所述电导率分布谱；

基于所述电导率分布谱及设定电导率确定次生孔隙连通性和有效性；其中，所述基于所述电导率分布谱及设定电导率确定次生孔隙连通性和有效性的方法，包括：若所述电导率分布谱的电导率大于或者等于所述设定电导率，则所述次生孔隙连通性和有效性好；否则，所述次生孔隙连通性和有效性差。

2.根据权利要求1所述的次生孔隙有效性评价方法，其特征在于，还包括：

根据所述电导率确定若干第二电导率区间中每个区间内的频数曲线，在相邻的所述频数曲线之间做不同的标记；

基于所述标记的范围及/或所述电导率分布谱的分布宽度反应所述次生孔隙连通性和有效性；

其中，所述标记与所述电导率的数值一一对应。

3.根据权利要求2所述的次生孔隙有效性评价方法，其特征在于，所述根据所述电导率确定若干第二电导率区间中每个区间内的频数曲线的方法，包括：

确定所述每个区间内所述频数曲线的数量；

在所述每个区间内，以第一个频数曲线为基值频数曲线，分别根据若干设定值确定所述电导率的频数，分别以测量深度为横坐标及所述频数为纵坐标绘制剩余所述频数曲线。

4.根据权利要求3所述的次生孔隙有效性评价方法，其特征在于，所述根据若干设定值确定所述电导率的频数的方法，包括：

确定所述每个区间的最小值的倍数为所述若干设定值；

分别统计所述电导率小于所述若干设定值的个数，所述个数为所述剩余所述频数曲线的频数。

5.一种基于电导率的次生孔隙有效性评价装置，其特征在于，包括：

电导率分布谱单元，用于根据电导率及所述电导率在若干第一电导率区间内的频数得到电导率分布谱；其中，所述电导率分布谱单元，包括：提取单元，用于获取缝洞分割图像及提取所述缝洞分割图像的缝及/或洞；确定单元，用于确定所述缝及/或洞的电导率；划分单元，用于将所述电导率的范围按照设定区间个数进行划分得到若干第一电导率区间；第一统计单元，用于分别统计所述若干第一电导率区间内的频数；输出单元，用于根据所述电导率及所述频数得到所述电导率分布谱；

评价单元，用于基于所述电导率分布谱及设定电导率确定次生孔隙连通性和有效性；其中，所述评价单元，包括：判断单元，若所述电导率分布谱的电导率大于或者等于所述设定电导率，则所述次生孔隙连通性和有效性好；否则，所述次生孔隙连通性和有效性差。

6.根据权利要求5所述的次生孔隙有效性评价装置，其特征在于；

所述的次生孔隙有效性评价装置，还包括：

标记单元，用于根据所述电导率确定若干第二电导率区间中每个区间内的频数曲线，在相邻的所述频数曲线之间做不同的标记；

连通性和有效性反应单元，用于基于所述标记的范围及/或所述电导率分布谱的分布宽度反应所述次生孔隙连通性和有效性；

其中，所述标记与所述电导率的数值一一对应。

7.根据权利要求6所述的次生孔隙有效性评价装置，其特征在于，所述标记单元，包括：

频数曲线的数量确定单元，用于确定所述每个区间内所述频数曲线的数量；

绘制单元，用于在所述每个区间内，以第一个频数曲线为基值频数曲线，分别根据若干设定值确定所述电导率的频数，分别以测量深度为横坐标及所述频数为纵坐标绘制剩余所述频数曲线。