[发明专利]偏光膜整线打标系统及方法有效

专利信息
申请号: 202010337720.2 申请日: 2020-04-26
公开(公告)号: CN111452514B 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 陈礼诚;朱兆杰;潘英东;毕小东;王勇;任涛涛;金若安;孙浩益;曾兵兵;程岩;吴小华;吴群策;孟佳 申请(专利权)人: 杭州利珀科技有限公司
主分类号: B41J3/407 分类号: B41J3/407;B41J3/01;B41J29/393;G01N21/89
代理公司: 上海世圆知识产权代理有限公司 31320 代理人: 顾俊超
地址: 311305 浙江省杭州市临安区青山*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 偏光 膜整线打标 系统 方法
【说明书】:

本发明公开偏光膜整线打标系统及方法,用于偏光膜生产线中,包含有,延伸复合段打标装置,其具有第一自动光学检测单元、二维码喷码机及第一解码器;涂布前段打标装置,其具有第二自动光学检测单元及第二解码器;以及,涂布后段打标装置,其具有第三自动光学检测单元、第三解码器及打标机。本发明的有益效果在于:具有缺陷检测精度高的特点。隔段打标精度高。能够准确地确定膜缺陷所在的具体层位置。并且根据膜缺陷的形成位置、范围程度等,判断偏光膜的成型质量,方便后端裁切剔除不良。

技术领域

本发明涉及偏光膜的缺陷检测领域,特别地是,偏光膜整线打标系统及方法。

背景技术

中国发明专利申请CN107703152A公开的“光学膜缺点自动标示装置”的技术方案:包括,架体,所述架体上设有放料模组、运料模组、检测模组、喷墨模组、收料模组、控制模组。能够依控制模组所设定阈值检测出光学膜缺点,经过分类器依其型态赋予分类,并依据缺点严重程度判断是否需要进行标示。

目前,对于偏光膜的缺陷检测往往是采用上述技术方案或类同的技术方案,即,均是在偏光膜的所有膜层复合后再对偏光膜整体进行缺陷检测并且在其上进行打标。上述方式存在的问题在于,第一,缺陷检测的精度较差;第二,无法确定膜缺陷所在的具体层位置。

发明内容

申请人经过长期研究发现,偏光膜生产中的致命缺陷往往是产生在生产线延伸复合段处,而不是生产线涂布段处。故,在生产线延伸复合段处检测膜缺陷对于提高偏光膜的缺陷检测精度、打标准确度以及偏光膜的成型质量有着很大帮助。

本发明的主要目的是解决现有技术中偏光膜所有膜层复合后再对偏光膜整体进行缺陷检测打标而带来的缺陷检测精度差及无法确定膜缺陷所在的具体层位置的技术问题,而提供一种新型的偏光膜整线打标系统及方法,以对生产线延伸复合段、生产线涂布段分别进行缺陷检测后再统一打标。本发明的次要目的是解决由于生产线延伸复合段、生产线涂布段采用分别缺陷检测,而膜在生产线延伸复合段与生产线涂布段间的过渡过程存在材料损耗等情形导致缺陷部无法准确定位的技术问题。

为了实现这一目的,本发明的技术方案如下:偏光膜整线打标系统,用于偏光膜生产线中,所述偏光膜生产线分成生产线延伸复合段、生产线涂布前段及生产线涂布后段,包含有,

延伸复合段打标装置,其布置于所述生产线延伸复合段,所述延伸复合段打标装置具有第一自动光学检测单元、二维码喷码机及第一解码器,所述第一自动光学检测单元用于光学检测所述生产线延伸复合段的膜的第一缺陷部;

涂布前段打标装置,其布置于所述生产线涂布前段,所述涂布前段打标装置具有第二自动光学检测单元及第二解码器,所述第二自动光学检测单元用于光学检测所述生产线涂布前段的膜的第二缺陷部;以及,

涂布后段打标装置,其布置于所述生产线涂布后段,所述涂布后段打标装置具有第三自动光学检测单元、第三解码器及打标机,所述第三自动光学检测单元用于光学检测所述生产线涂布后段的膜的第三缺陷部,所述打标机用于在所述生产线涂布后段的膜上标识出所述第一缺陷部、所述第二缺陷部及所述第三缺陷部。

作为偏光膜整线打标系统的优选方案,所述第一自动光学检测单元在所述生产线延伸复合段中定义有自己的第一自动光学检测坐标系,所述第一自动光学检测单元还用于记录所述第一缺陷部关于所述第一自动光学检测坐标系的坐标;所述二维码喷码机对位于所述生产线延伸复合段的膜的边部,所述二维码喷码机用于规律地喷涂二维码标记于所述生产线延伸复合段的膜的边部,使得所述生产线延伸复合段的膜的边部上具有一列沿所述膜的长度方向等间距排列的二维码标记,以此定义有所述膜自己的二维码标记坐标系;所述第一解码器布置于所述二维码喷码机的后面,所述第一解码器也对位于所述生产线延伸复合段的膜的边部,所述第一解码器用于解码识别所述二维码标记。

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