[发明专利]一种分布式进程处理系统、半导体老化测试方法及系统、分布式系统

权利要求书

1.一种分布式进程处理系统，其特征在于，应用于半导体存储器老化测试系统，半导体存储器老化测试系统包括管理逻辑板和测试逻辑板，所述分布式进程处理系统包括：

一级节点管理模块，用以管理一级节点，并存储与一级节点与二级节点之间的对应关系，其中，将管理逻辑板作为一级节点，测试逻辑板作为二级节点，每一个二级节点上包括多个测试单元；

以及多个二级节点管理模块，用以管理对应的二级节点以及与二级节点对应的测试进程，并存储二级节点与测试进程之间的对应关系，其中，每一个测试进程对应一个测试单元。

2.一种分布式进程处理方法，其特征在于，包括：

将管理逻辑板作为一级节点，测试逻辑板作为二级节点，通过一级节点管理模块管理一级节点并存储一级节点与二级节点之间的对应关系，其中，每一个二级节点上包括多个测试单元；

通过二级节点管理模块管理对应的二级节点以及与二级节点对应的测试进程，并存储二级节点与测试进程之间的对应关系；

为每一个测试单元分配一个测试进程，用于根据一级节点与二级节点之间的对应关系、二级节点与测试进程之间的对应关系运行测试单元的测试实例。

3.一种基于权利要求1所述的分布式进程处理系统的测试方法，其特征在于，包括：

通过一级节点管理模块创建一级节点管理进程，通过二级节点管理模块创建二级节点管理进程；

一级节点管理进程向二级节点管理进程发送启动命令，以使二级节点管理进程基于启动命令启动对应的测试进程，并返回启动完成消息，其中，每一个测试进程对应一个测试单元；

一级节点管理进程基于启动完成消息向二级节点管理进程发送测试命令，并通过二级节点管理进程将测试命令转发至对应的测试进程，以使测试进程对对应的测试单元进行测试，获得测试结果数据。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述一级节点管理进程向二级节点管理进程发送启动命令，以使二级节点管理进程基于启动命令启动对应的测试进程，并返回启动完成消息，包括：

一级节点管理进程向二级节点管理进程发送启动命令，其中，启动命令中携带待测试单元的标识；

二级节点管理进程基于待测试单元的标识，依次启动与待测试单元对应的测试进程，当一个测试进程启动完成后，发送启动完成消息至二级节点管理进程；

二级节点管理进程将收集所有启动完成消息，并发送至一级节点管理进程。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述二级节点管理进程基于待测试单元的标识，依次启动与待测试单元对应的测试进程，包括：

二级节点管理进程构建与待测试单元对应的测试进程的共享内存区域，以启动与待测试单元对应的测试进程，其中，目标测试进程与对应的共享内存区域连接。

6.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述一级节点管理进程基于启动完成消息向二级节点管理进程发送测试命令，并通过二级节点管理进程将测试命令转发至对应的测试进程，以使测试进程对对应的测试单元进行测试，包括：

一级节点管理进程基于启动完成消息向二级节点管理进程发送测试命令，其中，测试命令与待测试单元相对应；

二级节点管理进程将测试命令写入与待测试单元对应的共享内存通讯区域，其中共享内存通讯区域由二级节点管理进程在启动测试进程时构建；

通过测试进程获取共享内存通讯区域中的测试命令，并执行测试命令，使得待测试单元运行与测试命令对应的测试流程，并获得待测试单元的测试结果数据。

7.如权利要求4所述的方法，其特征在于，

所述启动命令用于启动预设的一个或者多个测试进程。