[发明专利]一种分布式进程处理系统、半导体老化测试方法及系统、分布式系统

说明书

本发明公开了一种分布式进程处理系统、半导体老化测试方法及系统、分布式系统，其中的分布式进程处理系统包括：一级节点管理模块，用以管理一级节点，并存储与一级节点与二级节点之间的对应关系，其中，将管理逻辑板作为一级节点，测试逻辑板作为二级节点，每一个二级节点上包括多个测试单元；多个二级节点管理模块，用以管理对应的二级节点以及与二级节点对应的测试进程，并存储二级节点与测试进程之间的对应关系，其中，每一个测试进程对应一个测试单元，并用以运行测试单元的测试实例。

技术领域

本发明涉及半导体存储器测试领域，具体涉及一种分布式进程处理系统、半导体老化测试方法及系统、分布式系统。

背景技术

半导体存储器(semi-conductor memory)是现代数字系统特别是计算机系统中的重要组成部件随着半导体存储器的集成度越来越高，半导体器件颗粒的尺寸也越来越小，半导体器件发生故障率也随之增加。半导体存储器件的可靠性，稳定性都需要在各种不同检测设备中进行测试验证。半导体存储器老化测试设备就是一种是针对半导体存储设备在不同极限温度下和长时间检测的设备。

目前半导体存储器老化测试设备的开发和设计中，测试系统通常采用的单进程的管理方式，因而存在运行稳定性的问题。

发明内容

本发明提供了一种分布式进程处理系统、半导体老化测试方法及系统、分布式系统，用于解决或者至少部分解决现有技术中存在的不稳定的问题。

为了解决上述技术问题，本发明第一方面提供了一种分布式进程处理系统，应用于半导体存储器老化测试系统，半导体存储器老化测试系统包括管理逻辑板和测试逻辑板，所述分布式进程处理系统包括：

一级节点管理模块，用以管理一级节点，并存储与一级节点与二级节点之间的对应关系，其中，将管理逻辑板作为一级节点，测试逻辑板作为二级节点，每一个二级节点上包括多个测试单元；

以及多个二级节点管理模块，用以管理对应的二级节点以及与二级节点对应的测试进程，并存储二级节点与测试进程之间的对应关系，其中，每一个测试进程对应一个测试单元，并用以运行测试单元的测试实例。

基于同样的发明构思，本发明第二方面提供了一种分布式进程处理方法，包括：

将管理逻辑板作为一级节点，测试逻辑板作为二级节点，通过一级节点管理模块管理一级节点并存储一级节点与二级节点之间的对应关系，其中，每一个二级节点上包括多个测试单元；

通过二级节点管理模块管理对应的二级节点以及与二级节点对应的测试进程，并存储二级节点与测试进程之间的对应关系；

为每一个测试单元分配一个测试进程，用于根据一级节点与二级节点之间的对应关系、二级节点与测试进程之间的对应关系运行测试单元的测试实例。

基于同样的发明构思，本发明第三方面提供了一种基于第一方面所述的分布式进程处理系统的测试方法，包括：

通过一级节点管理模块创建一级节点管理进程，通过二级节点管理模块创建二级节点管理进程；

一级节点管理进程向二级节点管理进程发送启动命令，以使二级节点管理进程基于启动命令启动对应的测试进程，并返回启动完成消息，其中，每一个测试进程对应一个测试单元；

一级节点管理进程基于启动完成消息向二级节点管理进程发送测试命令，并通过二级节点管理进程将测试命令转发至对应的测试进程，以使测试进程对对应的测试单元进行测试，获得测试结果数据。

在一种实施方式中，所述一级节点管理进程向二级节点管理进程发送启动命令，以使二级节点管理进程基于启动命令启动对应的测试进程，并返回启动完成消息，包括：

一级节点管理进程向二级节点管理进程发送启动命令，其中，启动命令中携带待测试单元的标识；