[发明专利]检验方法、检验系统和存储介质

权利要求书

1.一种检验方法，用于电子装置，其特征在于，所述检验方法包括：

根据电子装置保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，所述标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过；

在所述待校验的功能测试项通过时，清除所述电子装置保存的全部标志位结果，并将所述电子装置保存的全部标志位结果保存至外部设备；

在复验所述电子装置并且所述功能测试项不需要复测时，将所述外部设备保存的全部标志位结果写入所述电子装置中以复验所述电子装置。

2.根据权利要求1所述的检验方法，其特征在于，所述检验方法包括：

在所述待校验的功能测试项通过时，将识别码写入所述电子装置中。

3.根据权利要求1或2所述的检验方法，其特征在于，所述检验方法包括：

确认所述电子装置的非功能测试项是否通过；

在所述非功能测试项没有通过时，复验所述电子装置。

4.根据权利要求3所述的检验方法，其特征在于，确认所述电子装置的非功能测试项是否通过包括：

确认所述电子装置储存的测试内容是否清除；

在所述非功能测试项没有通过时，复验所述电子装置，包括：

在所述测试内容没有清除时，复验所述电子装置。

5.根据权利要求3所述的检验方法，其特征在于，确认所述电子装置的非功能测试项是否通过包括：

确认所述电子装置是否关机；

在所述非功能测试项没有通过时，复验所述电子装置，包括：

在电子装置没有关机时，复验所述电子装置。

6.根据权利要求1所述的检验方法，其特征在于，所述检验方法包括：

在复验所述电子装置且至少一个所述功能测试项需要复测时，将所述外部设备中保存的所述全部标志位结果设置为失效。

7.根据权利要求6所述的检验方法，其特征在于，在将所述外部设备中保存的所述全部标志位结果设置为失效后，所述检验方法包括：

在所述电子装置重新测试第一个功能测试项，清空所述标志位。

8.一种检验系统，其特征在于，包括：

检验模块，用于根据电子装置保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，所述标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过；

处理模块，用于在所述待校验的功能测试项通过时，清除所述电子装置保存的全部标志位结果，并将所述电子装置保存的全部标志位结果保存至外部设备；

写入模块，用于在复验所述电子装置并且所述功能测试项不需要复测时，将所述外部设备保存的全部标志位结果写入所述电子装置中以复验所述电子装置。

9.一种检验系统，其特征在于，包括：

一个或多个处理器、存储器；和

一个或多个程序，其中所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被所述一个或多个处理器执行，所述程序包括用于执行根据权利要求1-7任意一项所述的检验方法的指令。

10.一种包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，其特征在于，当所述计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求1-7任一项所述的检验方法。