[发明专利]检验方法、检验系统和存储介质

说明书

本申请公开了一种检验方法、检验系统和存储介质，检验方法包括：根据电子装置保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过；在待校验的功能测试项通过时，清除电子装置保存的全部标志位结果，并将电子装置保存的全部标志位结果保存至外部设备；在复验电子装置并且功能测试项不需要复测时，将外部设备保存的全部标志位结果写入电子装置中以复验电子装置。如此，在复验电子装置并且功能测试项不需要复测时，外部设备保存的全部标志位结果写入电子装置中，无需复测功能测试项以在电子装置中写入新的标志位结果，可以使电子装置复验可以较快地通过，节约了测试时间和成本。

技术领域

本申请涉及检测技术领域，特别涉及一种检验方法、检验系统和存储介质。

背景技术

在手机等电子装置生产的过程中，通常需要对电子装置的功能或性能进行测试，以保证出厂后的电子装置的品质。在电子装置测试过程中，一般将测试结果保存在电子装置中，以使校验时确定电子装置全部的测试项目是否通过。

在一些相关技术中，校验电子装置的全部测试项目通过后，将电子装置中保存的测试结果清除。在复测电子装置中的某个测试项时，若该测试项不合格，在再次校验电子装置时，由于电子装置中的测试结果被清除，需要重新测试所有的测试项目，增加了测试时间和测试成本。

发明内容

本申请提供一种检验方法、检验系统和存储介质。

本申请实施方式的检验方法用于电子装置，所述检验方法包括：

根据电子装置保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，所述标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过；

在所述待校验的功能测试项通过时，清除所述电子装置保存的全部标志位结果，并将所述电子装置保存的全部标志位结果保存至外部设备；

在复验所述电子装置并且所述功能测试项不需要复测时，将所述外部设备保存的全部标志位结果写入所述电子装置中以复验所述电子装置。

本申请实施方式的检验系统包括检验模块、处理模块和写入模块，检验模块用于根据电子装置保存的全部标志位结果检验待校验的功能测试项是否通过，所述标志位结果用于标志与标志位对应的功能测试项是否通过。处理模块用于在所述待校验的功能测试项通过时，清除所述电子装置保存的全部标志位结果，并将所述电子装置保存的全部标志位结果保存至外部设备；写入模块用于在复验所述电子装置并且所述功能测试项不需要复测时，将所述外部设备保存的全部标志位结果写入所述电子装置中以复验所述电子装置。

本申请另一种实施方式的检验系统包括：

一个或多个处理器、存储器；和

一个或多个程序，其中所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被所述一个或多个处理器执行，所述程序包括用于执行根据以上实施方式所述的检验方法的指令。

一种包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行以上实施方式所述的检验方法。

本申请实施方式的检验方法、检验系统和存储介质中，在复验电子装置并且功能测试项不需要复测时，外部设备保存的全部标志位结果写入电子装置中，无需复测功能测试项以在电子装置中写入新的标志位结果，可以使电子装置复验可以较快地通过，节约了测试时间和成本。

本申请的附加方面的优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明

本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本申请实施方式的电子装置的连接示意图；