[发明专利]一种AOI成像组件系统及其使用方法

说明书

本发明公开了一种AOI成像组件系统，适用于鸥翼型和J型引脚元器件的自动检测，包括：垂直成像组件、用于对俯视方向非可视焊点部位进行图像推扫采集的倾斜成像组件、支架装置以及控制装置，垂直成像组件用于对印制板的可视焊点、器件本体和标识进行图像推扫采集，倾斜成像组件与印制板所在平面的法线呈可变角度设置，支架装置用于带动倾斜成像组件改变空间位置，控制装置用于控制支架装置进行转动操作、接收可视部位和非可视焊点部位的图像信息、将接收的图像信息与数据库合格参数进行对比。本系统可实现鸥翼型和J型引脚元器件的高效优质检验，提高检验效率和降低人工成本。此外，本发明还提供了一种应用于上述AOI成像组件系统的使用方法。

技术领域

本发明涉及电子装联技术领域，更具体地说，涉及一种AOI成像组件系统。此外，还涉及一种应用于上述AOI成像组件系统的使用方法。

背景技术

现有技术中，自动光学检测系统(AOI)是通过光学影像对比的原理对印制板生产过程中常见缺陷进行检测的设备。一般都是通过垂直印制板表面的成像组件对印制板进行图像推扫采集，然后，再与数据库中合格的参数进行比较，从而检查出印制板上的缺陷，并供维修人员返修处理。

然而，SOP封装或QFP封装中一般采用鸥翼型引脚2，这类器件在进行焊点检验的过程中，不但要检验趾尖焊料的润湿爬升，还需对趾跟的焊料填充进行评估。而针对鸥翼型引脚2，一般都将趾跟填充作为焊点合格的首要判据，但目前现有的自动光学检测设备都是垂直印制板表面设置，自上而下的对印制板进行图像推扫采集，这种设置方式导致其只能针对趾尖的可视部位进行检测，而趾跟部位由于引脚的遮挡而无法进行图像采集，因此，目前的自动光学检测设备无法对鸥翼型引脚2进行趾跟焊料填充的检验。

此外，存在这种由于遮挡而无法进行检验的器件引脚类型还包括PLCC等封装常用的J型引脚1，这类器件由于引脚的遮挡，很难对焊料的爬升高度进行准确测试，鸥翼型引脚2和J型引脚1的结构如图1和图2所示。

因此，使用现有的自动光学检测设备对鸥翼型引脚2或J型引脚1的焊点进行检验时，会存在一定的误报率，很可能将只有趾尖润湿爬升而无趾跟填充的鸥翼型引脚2焊点判定为合格，或将外侧爬升高度不足和爬升高度超标的J型引脚1焊点判定为合格，最终使得产品质量及其可靠性存在一定隐患。所以，现有技术中，对于这类器件的检测，一般都需要在AOI检验后，再进行人工目视检验，以确保焊点的合格，但这无疑会降低检验效率和增加人员成本。

综上所述，如何提供一种可实现鸥翼型引脚2和J型引脚1的高效、优质检验的装置，已成为本领域技术人员亟待解决的技术难题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的是提供一种AOI成像组件系统，其结构简单、操作方便，可以实现鸥翼型引脚和J型引脚的高效、优质检验，而且，无需通过人工目视检验，可以有效提高检验效率和降低人工成本。

本发明的另一目的是提供一种应用于上述AOI成像组件系统的使用方法，其可以实现鸥翼型引脚和J型引脚的高效、优质检验。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种AOI成像组件系统，适用于鸥翼型和J型引脚元器件的自动检测，包括：垂直成像组件、用于对印制板俯视方向的非可视焊点部位进行图像推扫采集的倾斜成像组件、用于连接所述垂直成像组件和所述倾斜成像组件的支架装置以及控制装置，所述垂直成像组件用于对所述印制板的可视焊点、器件本体和标识进行图像推扫采集，所述垂直成像组件垂直于所述印制板设置，所述倾斜成像组件与所述印制板所在平面的法线呈可变角度设置，所述支架装置可相对所述垂直成像组件转动，以带动所述倾斜成像组件改变空间位置；

所述垂直成像组件、所述倾斜成像组件以及所述支架装置均与所述控制装置连接，所述控制装置用于控制所述垂直成像组件和所述倾斜成像组件进行检验操作、用于控制所述支架装置进行转动操作、用于接收可视部位和非可视焊点部位的图像信息、用于将接收的图像信息与数据库的合格参数进行对比。