[发明专利]基于脉冲梯度硬件结构的一维空间选层T2

权利要求书

1.基于脉冲梯度硬件结构的一维空间选层T₂谱测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)使用分析仪器常用的均匀磁场作为主磁场B0，选用成像梯度线圈硬件结构施加梯度场，在CPMG序列回波采样期间施加幅度不变的梯度实现选层功能；

(2)测量不同位置信号通过切换射频激发频率，和该位置恒定梯度场下的共振频率相同，实现层位选择；

(3)在梯度线圈硬件上增加循环水冷模块，通过模块中的制冷设备将梯度线圈产生的热量带走，使其在CPMG回波采样期间保持恒定的梯度输出，且持续时间至少保持在1～2s，达到保护梯度硬件不被烧坏的目的；

(4)选用高功率功放电源，同时通过累加采样时的等待时间TW来控制梯度功放电源输出占空比，保证给梯度线圈供电的功放电源能够持续输出1～2s，达到保护功放电源不过载的目的。

2.根据权利要求1所述的一维空间选层T₂谱测试方法，其特征在于：步骤(3)中在梯度线圈硬件上增加循环水冷模块，利用成像类的脉冲梯度硬件结构，增加循环水冷模块，实现长延时恒定梯度场输出，满足选层测试期间CPMG序列的采样需要，兼容核磁共振分析仪器的磁体平台。

3.根据权利要求2所述的一维空间选层T₂谱测试方法，其特征在于：针对恒定梯度场选层测试的工作原理，设计适合脉冲梯度硬件结构的恒定梯度模式一维空间选层T₂谱测试专用序列，完整继承梯度型主磁场恒定梯度一维空间选层T₂谱测试方法T₂测试下限值小的优点，为满足中短T₂弛豫特征的多孔介质一维空间选层T₂谱测试创造条件。

4.根据权利要求3所述的一维空间选层T₂谱测试方法，其特征在于：还设计了基于均匀水膜样品测试提前获取核磁共振信号校正常数的方法，解决实际样品测试时，恒定梯度场模式下射频线圈发射、接收中心频率和射频线圈S 11曲线谐振点不严格相等造成的核磁信号不一致问题，保证一维空间选层T₂谱测试的数据一致性。

5.根据权利要求1所述的一维空间选层T₂谱测试方法，其特征在于：所述的一维空间选层T2谱测试方法，从数据采集角度看，恒定梯度编码方式的响应信号表达式如下：

式中式中S(N·TE,z)是采样信号；TE是回波间隔，N是回波序号；z是选层方向；恒定梯度编码方式是选择性激发采样，直接对不用位置处的回波信号S(N·TE,z)反演即可得到一维空间选层T₂谱f(T2,z)。

6.根据权利要求1所述的一维空间选层T₂谱测试方法，其特征在于：所述的一维空间选层T2谱测试方法，从硬件实现角度看，梯度场只是在需要的时候施加，主磁场B0仍然是均匀场，保证了磁体平台的通用性。