[发明专利]一种基于阴极发光技术对硅质次生加大边的定量计算方法有效
申请号: | 202010348873.7 | 申请日: | 2020-04-28 |
公开(公告)号: | CN111487274B | 公开(公告)日: | 2020-11-13 |
发明(设计)人: | 久博;黄文辉;李媛;何明倩;孙启隆 | 申请(专利权)人: | 中国地质大学(北京) |
主分类号: | G01N23/2254 | 分类号: | G01N23/2254;G01N23/2202;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/62;G06T7/90 |
代理公司: | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人: | 许云慧 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 阴极 发光 技术 次生 加大 定量 计算方法 | ||
1.一种基于阴极发光技术对硅质次生加大边的定量计算方法,其特征在于,包括:
S100、采用阴极射线照射目标砂岩,得到保存有胶结作用特征的阴极发光图像,还包括在照射前对目标砂岩进行预处理,所述预处理过程包括:
S101、将形成为薄片的目标砂岩置于弱酸液中,通过酸洗对目标砂岩进行表面蚀刻,具体包括将形成为薄片的目标砂岩置于浓度为20-30重量%的双氧水中于80-90℃的条件下处理3-5min;将经过双氧水处理后的目标砂岩置于弱酸液中,于超声震荡条件下浸泡10-20min后取出;将取出的目标砂岩顺次经乙醇和乙醚洗涤后烘干,得到酸洗后的目标砂岩;
S102、将酸洗后的目标砂岩置于氯化亚砜中进行处理,具体包括将目标砂岩置于氯化亚砜中,于70-80℃的条件下搅拌12-48h;将反应体系中的温度降低至20-30℃后,减压蒸馏,除去氧化亚砜;
S103、将处理后的目标砂岩置于乙二胺中进行活化,得到活化后的目标砂岩,具体包括将处理后的目标砂岩置于乙二胺中,于温度为80-120℃,压力为3-5个大气压的条件下搅拌36-60h;将目标砂岩取出并顺次经乙醇和水交替洗涤后,真空干燥;
S104、将活化后的目标砂岩置于含有铝离子的溶液中浸泡后,得到预处理后的目标砂岩,浸泡条件为:于超声震荡条件下浸泡,且温度为30-50℃,所述溶液中铝离子的含量为0.2-0.3mol/L;
S200、对得到的阴极发光图像采用Matlab处理,在对阴极发光图像中各类胶结物的像素和色彩进行保留的前提下进行图像二值化处理,得到能够被Matlab识别的二值图像;
S300、通过能够对胶结物区域进行识别的函数对胶结物区域进行输出,对输出的各类胶结物区域进行定量计算。
2.根据权利要求1所述的一种基于阴极发光技术对硅质次生加大边的定量计算方法,其特征在于,步骤S200中图像二值化处理具体包括:
S201、将得到的阴极发光图像根据能量梯度的差异构建形成不同的图像分块;
S202、将每个图像分块分别提取R通道像素值、G通道像素值和B通道像素值;
S203、将每个图像分块中的R通道像素值、G通道像素值和B通道像素值分别与设定的阈值比对,将每个图像分块分别重新设置为白电平像素区和黑电平像素区,且白电平像素区为胶结物区域,构建二值图像。
3.根据权利要求2所述的一种基于阴极发光技术对硅质次生加大边的定量计算方法,其特征在于,步骤S203中,所述阈值界定为:当图像分块中R≤71,且G≤45,且B≥103时,则记为255,即白电平像素区;反之,则记为0,即黑电平像素区。
4.根据权利要求1所述的一种基于阴极发光技术对硅质次生加大边的定量计算方法,其特征在于,步骤S300包括:
S301、对二值图像中连通的相同像素区进行识别并获取连通区域的轮廓后,重新划分白电平像素区和黑电平像素区的区域轮廓;
S302、对二值图像整体建立直角坐标系,分别采集白电平像素区的沿X轴和Y轴上的最大值和最小值,计算每个胶结物区域的半径,并建立胶结物区域的半径分布图。
5.根据权利要求4所述的一种基于阴极发光技术对硅质次生加大边的定量计算方法,其特征在于,步骤S302中,胶结物区域的半径的计算公式为:;其中,
Xmin,Xmax,Ymin,Ymax分别代表单个白电平像素区沿X轴最小值、X轴最大值、Y轴最小值、Y轴最大值,(Xmax-Xmin)为胶结物区域沿X轴方向的直径,(Ymax-Ymin)为Y轴方向的直径。
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