[发明专利]一种基于阴极发光技术对硅质次生加大边的定量计算方法有效
申请号: | 202010348873.7 | 申请日: | 2020-04-28 |
公开(公告)号: | CN111487274B | 公开(公告)日: | 2020-11-13 |
发明(设计)人: | 久博;黄文辉;李媛;何明倩;孙启隆 | 申请(专利权)人: | 中国地质大学(北京) |
主分类号: | G01N23/2254 | 分类号: | G01N23/2254;G01N23/2202;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/62;G06T7/90 |
代理公司: | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人: | 许云慧 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 阴极 发光 技术 次生 加大 定量 计算方法 | ||
本发明实施例公开了一种基于阴极发光技术对硅质次生加大边的定量计算方法,包括:S100、采用阴极射线照射目标砂岩,得到保存有胶结作用特征的阴极发光图像;S200、对得到的阴极发光图像采用Matlab处理,在对阴极发光图像中各类胶结物的像素和色彩进行保留的前提下进行图像二值化处理,得到能够被Matlab识别的二值图像;S300、通过能够对胶结物区域进行识别的函数对胶结物区域进行输出,对输出的各类胶结物区域进行定量计算。本发明通过对目标砂岩采集阴极发光图像,并通过二值化处理后,对识别出的胶结物区域进行输出和定量计算来解决人为叠加测距不仅偏差大,且工作量巨大的问题。
技术领域
本发明实施例涉及阴极发光技术在矿石检测中的应用领域,具体涉及一种基于阴极发光技术对硅质次生加大边的定量计算方法。
背景技术
石英次生加大是在成岩过程中常见的自生形式,硅质胶结物常以次生加大或以交代其他矿物的形式出现,最常见的是石英和长石颗粒的次生加大,其中,硅质胶结物对储层的孔隙结构与渗透率起到重要影响。
现有技术中对于胶结物的定量分析方法主要以地球化学、测井曲线以及各类数点法(网格法)为手段。然而,硅质胶结物因其完全生长于原生石英颗粒上,地球化学方法或者依靠测井曲线推到无法精准地获取胶结物含量,因此硅质次生加大边的计算方法主要通过借助绘图软件中的测距的方式,并结合数点法对硅质胶结物的半径分布依靠测距的叠加结果进行输出。
然而,数点法的方式是对富含胶结物的图像分别在长宽方向划分20-25条线,通过目镜十字丝对准边界或是交界点,并通过最终两个方向的交点个数与总个数的比值来计算得到硅质胶结物的含量。然而,这种方式虽然能够对于硅质胶结物的含量进行计算,但是在使用过程中由于数点法无法精确到像素格,仅能根据每个固定形状的格体进行分区,因此,其计算结果偏差相对较大,同时,叠加测距的方式也会给实际操作带来巨大的工作量,不利于大批量的操作。
发明内容
为此,本发明实施例提供一种基于阴极发光技术对硅质次生加大边的定量计算方法,以通过对目标砂岩采集阴极发光图像,并通过二值化处理后,对识别出的胶结物区域进行输出和定量计算来解决人为叠加测距不仅偏差大,且工作量巨大的问题。
为了实现上述目的,本发明的实施方式提供如下技术方案:
在本发明的一个方面,提供了一种基于阴极发光技术对硅质次生加大边的定量计算方法,包括:
S100、采用阴极射线照射目标砂岩,得到保存有胶结作用特征的阴极发光图像;
S200、对得到的阴极发光图像采用Matlab处理,在对阴极发光图像中各类胶结物的像素和色彩进行保留的前提下进行图像二值化处理,得到能够被Matlab识别的二值图像;
S300、通过能够对胶结物区域进行识别的函数对胶结物区域进行输出,对输出的各类胶结物区域进行定量计算。
作为本发明的一种优选方案,步骤S100中,还包括在照射前对目标砂岩进行预处理,所述预处理过程包括:
S101、将形成为薄片的目标砂岩置于弱酸液中,通过酸洗对目标砂岩进行表面蚀刻;
S102、将酸洗后的目标砂岩置于氯化亚砜中进行处理;
S103、将处理后的目标砂岩置于乙二胺中进行活化,得到活化后的目标砂岩;
S104、将活化后的目标砂岩置于含有铝离子的溶液中浸泡后,得到预处理后的目标砂岩。
作为本发明的一种优选方案,步骤S101中,所述弱酸液包括水、氢氟酸、氟化铵和铬酸,且相对于1L的所述水,所述氢氟酸的含量为10-20mL,所述氟化铵的含量为3-6g,所述铬酸的含量为3-6mL。
作为本发明的一种优选方案,步骤S101具体包括:
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