[发明专利]阵列基板及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202010353453.8 申请日: 2020-04-29
公开(公告)号: CN111403338B 公开(公告)日: 2022-09-27
发明(设计)人: 艾飞;罗成志 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77;H01L27/12
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 张晓薇
地址: 430079 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 阵列 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种阵列基板的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

提供一基板;

在所述基板上形成有源层,所述有源层包括源极区域和漏极区域;

在所述有源层上依次形成层间绝缘层和像素电极层;

图案化所述层间绝缘层和所述像素电极层,以在所述像素电极层形成像素电极,在所述层间绝缘层形成第一过孔、第二过孔和第一凹槽,所述第一过孔裸露出所述漏极区域,所述第二过孔裸露出所述源极区域,所述第一凹槽与所述第二过孔连通设置;

在所述像素电极层上形成源漏金属层,图案化所述源漏金属层以形成源极和漏极,所述漏极设置在所述第一过孔内,所述源极设置在所述第二过孔内并延伸入所述第一凹槽;

在所述源漏金属层上依次形成图案化的钝化层和图案化的公共电极层。

2.根据权利要求1所述的阵列基板的制备方法,其特征在于,所述图案化所述层间绝缘层和所述像素电极层,以在所述层间绝缘层形成第一过孔、第二过孔和第一凹槽的步骤,包括:

在所述像素电极层上形成第一光阻层;

采用半色调光罩对所述第一光阻层进行曝光处理,以形成图案化的第一光阻,图案化的所述第一光阻包括第一部分、第二部分、第三部分和通孔,所述第一部分、所述第二部分和所述第三部分的厚度递减,所述通孔裸露出所述像素电极层且对应于所述漏极区域和所述源极区域的部分;

对所述像素电极层和所述层间绝缘层位于所述漏极区域和所述源极区域的部分进行刻蚀,以分别形成第一开孔和第二开孔,所述第一开孔和所述第二开孔均裸露出所述层间绝缘层;

对图案化的所述第一光阻进行第一灰化处理,以除去所述第三部分并得到第一减薄后的所述第一部分和所述第二部分,且裸露出所述像素电极层对应于待形成的所述第一凹槽的部分;

对所述层间绝缘层的裸露部分以及所述像素电极层和所述层间绝缘层位于待形成的所述第一凹槽的部分进行刻蚀,以形成所述第一过孔、所述第二过孔和所述第一凹槽。

3.根据权利要求2所述的阵列基板的制备方法,其特征在于,所述半色调光罩包括第一透光部、第二透光部、第三透光部和第四透光部,所述第一透光部、所述第二透光部、所述第三透光部和所述第四透光部的透过率递增;

所述采用半色调光罩对所述第一光阻层进行曝光处理,以形成图案化的第一光阻的步骤,包括:

将所述第一透光部、所述第二透光部、所述第三透光部和所述第四透光部一一对应于待形成的所述第一部分、所述第二部分、所述第三部分和所述通孔;

对所述第一光阻层进行曝光,以形成所述第一部分、所述第二部分、所述第三部分和所述通孔。

4.根据权利要求2所述的阵列基板的制备方法,其特征在于,在所述对所述层间绝缘层的裸露部分以及所述像素电极层和所述层间绝缘层位于待形成的所述第一凹槽的部分进行刻蚀,以形成所述第一过孔、所述第二过孔和所述第一凹槽的步骤之后,还包括:

对所述第一灰化处理后的所述第一光阻进行第二灰化处理,以除去所述第一减薄后的所述第二部分并得到第二减薄后的所述第一部分;

以所述第二减薄后的所述第一部分为掩膜,对所述像素电极层的裸露部分进行刻蚀处理,以形成所述像素电极;

除去所述第二减薄后的所述第一部分。

5.根据权利要求2所述的阵列基板的制备方法,其特征在于,对图案化的所述第一光阻进行第一灰化处理,以除去所述第三部分并得到第一减薄后的所述第一部分和所述第二部分,且裸露出所述像素电极层对应于待形成的所述第一凹槽的部分的步骤,包括:

对图案化的所述第一光阻进行第一灰化处理,以除去所述第三部分并得到第一减薄后的所述第一部分和所述第二部分,且裸露出所述像素电极层对应于待形成的所述第一凹槽的部分和对应于待形成的第二凹槽的部分;

所述对所述层间绝缘层的裸露部分以及所述像素电极层和所述层间绝缘层位于待形成的所述第一凹槽的部分进行刻蚀,以形成所述第一过孔、所述第二过孔和所述第一凹槽的步骤,包括:

对所述层间绝缘层的裸露部分以及所述像素电极层和所述层间绝缘层位于待形成的所述第一凹槽的部分和位于待形成的所述第二凹槽的部分进行刻蚀,以形成所述第一过孔、所述第二过孔、所述第一凹槽和所述第二凹槽,所述第二凹槽与所述第一凹槽间隔设置,且所述第二凹槽裸露出所述层间绝缘层。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉华星光电技术有限公司,未经武汉华星光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010353453.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top