[发明专利]光学芯片模组测试装置

权利要求书

1.光学芯片模组测试装置，包括匹配的上模组（100）及下模组（300），所述上模组包括测试探针，所述下模组（300）包括芯片放置座（301），所述芯片放置座（301）上形成有芯片放置槽（302），其特征在于：所述芯片放置座（301）上形成正对所述芯片放置槽（302）且与芯片放置槽（302）的槽底连通的安装空间（303），所述安装空间（303）内可平移地设置有LENS（304）。

2.根据权利要求1所述的光学芯片模组测试装置，其特征在于：所述上模组（100）和/或下模组（300）连接驱动它们相对移动的移动机构；

或所述上模组及下模组（300）的一侧铰接。

3.根据权利要求1所述的光学芯片模组测试装置，其特征在于：所述测试探针包括探针主体，所述探针主体的测试端斜切形成有一斜切平面，所述斜切平面的面积大于其测试端未切割前的端面的面积。

4.根据权利要求3所述的光学芯片模组测试装置，其特征在于：所述测试探针固定于测试探针固定治具上且电连接测试PCB板，所述测试PCB板固定在所述测试探头固定治具上。

5.根据权利要求4所述的光学芯片模组测试装置，其特征在于：所述测试探针固定治具包括固定座，所述固定座上形成有一斜槽，所述斜槽的槽底连通一排沿斜槽深度方向延伸的导向孔，所述斜槽中设置有嵌入块，所述测试探针设置在所述嵌入块上且每个测试探针穿过一所述导向孔。

6.根据权利要求5所述的光学芯片模组测试装置，其特征在于：所述斜槽内填充有包覆所述嵌入块的胶水。

7.根据权利要求5所述的光学芯片模组测试装置，其特征在于：所述测试探针固定治具还包括保持板，所述保持板设置在所述固定座上，且其上形成有一组与所述斜槽的槽口相对且与所述斜切平面垂直的定位孔，一个定位孔与一个导向孔对应；所述探针主体还包括伸入到所述定位孔中的第二部分。

8.根据权利要求1-7任一所述的光学芯片模组测试装置，其特征在于：所述LENS（304）设置于镜头架（305）上，所述镜头架（305）连接驱动其水平移动的微调机构，所述微调机构包括驱动所述镜头架（305）沿第一方向X和/或第二方向Y移动的第一微调机构和/或第二微调机构。

9.根据权利要求8所述的光学芯片模组测试装置，其特征在于：所述第一微调机构包括向所述镜头架（305）相对的两侧施加相向压力的第一弹性件（311）及第一调节件（312），所述第一调节件（312）可沿其延伸方向往复移动以调整所述第一弹性件（311）的弹力。

10.根据权利要求8所述的光学芯片模组测试装置，其特征在于：所述第二微调机构包括向所述镜头架（305）相对的两侧施加相向压力的第二弹性件（321）及第二调节件（322），

所述第二调节件（322）可沿其延伸方向往复移动以调整所述第二弹性件（321）的弹力；

或所述第二调节件（322）可原地自转并驱动一偏心体（323）的不同部位与镜头架（305）接触以调节所述第二弹性件（321）的弹力。

11.根据权利要求8所述的光学芯片模组测试装置，其特征在于：所述芯片放置座（301）可沿其轴向移动地设置在支撑台上。

12.根据权利要求8所述的光学芯片模组测试装置，其特征在于：所述芯片放置座（301）上形成有一组均匀分布在安装空间（303）四周且一端位于所述芯片放置槽（302）的槽底的气流通道（330）。

13.根据权利要求8所述的光学芯片模组测试装置，其特征在于：所述安装空间（303）内设置有朝向所述芯片放置槽（302）的光源（340），所述光源（340）和LENS（304）之间设置有均光装置（350）。