[发明专利]芯片电压配置方法及相关装置

权利要求书

1.一种芯片电压配置方法，其特征在于，所述方法包括：

根据目标芯片的特征确定目标测试项，所述目标测试项用于测试所述目标芯片的性能，所述性能包括芯片速率；

根据所述目标测试项确定所述目标芯片分别处于N个电源频率下的M个最低工作电压，M为正整数，N为大于或等于M的正整数；

根据所述目标芯片的M个最低工作电压确定目标电压配置策略。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标测试项确定所述目标芯片分别处于N个电源频率下的M个最低工作电压，包括：

获取经过所述目标测试项测试的所述目标芯片的测试反馈数据；

根据所述测试反馈数据确定所述目标芯片的预测等级；

根据所述预测等级确定所述目标芯片在N个电源频率下的M个最低工作电压。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述预测等级确定所述目标芯片分别处于N个电源频率下的M个最低工作电压，包括：

获取所述预测等级对应的预测电压值；

将所述预测电压值确定为搜索起始电压，对所述目标芯片的工作电压范围进行搜索，直到确定所述N个电源频率下所述目标芯片的M个最低工作电压。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标测试项确定所述目标芯片分别处于N个电源频率下的M个最低工作电压，包括：

根据所述目标测试项测试所述目标芯片在N个电源频率下的M个最高工作频率；

根据所述最高工作频率确定所述目标芯片的速率等级将与所述速率等级相对应的最低工作电压确定为搜索起始电压，对所述目标芯片的工作电压范围进行搜索，直到确定所述N个电源频率下所述目标芯片的M个最低工作电压。

5.根据权利要求1～4任一项所述的方法，其特征在于，所述目标测试项包括用于对目标芯片进行测试的测试代码；所述根据目标芯片的特征确定目标测试项，包括：

根据所述目标芯片的特征从测试数据库中选取预设测试项；

获取所述预设测试项的代码量；

选取所述代码量低于预设代码量的预设测试项作为所述目标测试项。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述选取所述代码量低于预设代码量的预设测试项作为所述目标测试项，包括：

对所述代码量低于预设代码量的预设测试项进行样片测试分析，所述样片测试分析用于筛选所述目标测试项；

根据所述样片测试分析的分析数据从所述代码量低于预设代码量的预设测试项中确定基准测试片段；

将所述基准测试片段作为所述目标测试项。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标芯片的M个最低工作电压确定目标电压配置策略，包括：

将所述M个最低工作电压烧写进所述目标芯片中；

获取预设的测试环境数据；

根据所述目标芯片中的所述M个最低工作电压和所述测试环境数据确定所述目标芯片的目标电压配置策略。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标芯片的M个最低工作电压确定目标电压配置策略之后，所述方法还包括：

获取所述目标芯片在所述目标电压配置策略下的工作反馈数据，所述工作反馈数据用于表示所述目标芯片在电子设备上的芯片速率；

根据所述工作反馈数据调整所述目标电压配置策略，直到所述目标芯片在所述电子设备上的工作数据符合预设需求。

9.一种芯片电压配置装置，其特征在于，所述装置包括：

测试项选取单元，用于根据目标芯片的特征确定目标测试项，所述目标测试项用于测试目标芯片的性能，所述性能包括芯片速率；

电压确定单元，用于根据所述目标测试项确定所述目标芯片分别处于N个电源频率下的M个最低工作电压，M为正整数，N为大于或等于M的正整数；

策略配置单元，用于根据所述目标芯片的M个最低工作电压确定目标电压配置策略。