[发明专利]芯片电压配置方法及相关装置

说明书

本申请提供了一种芯片电压配置方法及相关装置，首先，根据目标芯片的特征确定目标测试项，所述目标测试项用于测试所述目标芯片的性能，所述性能包括芯片速率；然后，根据所述目标测试项确定所述目标芯片分别处于N个电源频率下的M个最低工作电压，M为正整数，N为大于或等于M的正整数；最后，根据所述目标芯片的M个最低工作电压确定目标电压配置策略。可以基于每颗芯片的最低工作电压为其提供最合适的电压配置策略，实现每颗芯片调压策略的差异化，节省功耗。

技术领域

本申请涉及集成电路技术领域，特别是一种芯片电压配置方法及相关装置。

背景技术

随着技术的发展，芯片的应用日益广泛，对芯片质量的要求也越来越精细，对芯片进行速率等级的划分可以提升芯片的工作效率，目前的芯片速率等级划分策略为根据芯片自身特性，将处理速率相近的芯片划分至同一等级中，同一等级的芯片拥有相同的最低工作电压，采取同一套动态电压频率调节(Dynamic Voltage and Frequency Scaling，DVFS)策略进行处理。

但处于两个等级分界线上的芯片，即刀口芯片，这些刀口芯片的实际最低工作电压会略低于所在等级的最低工作电压，或者，刀口芯片的最高工作频率会高于所在等级的最高工作频率，此时若仍然采用该等级对应的DVFS策略对芯片进行处理，会出现电压浪费。

发明内容

根据上述问题，本申请提出了一种芯片电压配置方法及相关装置，可以基于目标测试项对目标芯片进行测试来确定目标芯片的最低工作电压，为每颗芯片都制定个性化的电压配置策略，实现每颗芯片调压策略的差异化，节省功耗。

第一方面，本申请实施例提供了一种芯片电压配置方法，包括：

根据目标芯片的特征确定目标测试项，所述目标测试项用于测试所述目标芯片的性能，所述性能包括芯片速率；

根据所述目标测试项确定所述目标芯片分别处于N个电源频率下的M个最低工作电压，M为正整数，N为大于或等于M的正整数；；

根据所述目标芯片的M个最低工作电压确定目标电压配置策略。

第二方面，本申请实施例提供了一种芯片电压配置装置，包括：

测试项选取单元，用于根据目标芯片的特征确定目标测试项，所述目标测试项用于测试所述目标芯片的性能，所述性能包括芯片速率；

电压确定单元，用于根据所述目标测试项确定所述目标芯片分别处于N个电源频率下的M个最低工作电压，M为正整数，N为大于或等于M的正整数；；

策略配置单元，用于根据所述目标芯片的M个最低工作电压确定目标电压配置策略。

第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括应用处理器、存储器，以及一个或多个程序，所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被配置由所述应用处理器执行，所述程序包括用于执行如本申请实施例第一方面任一项所述的方法中的步骤的指令。

第四方面，本申请实施例提供了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时使所述处理器执行如本申请实施例第一方面任一项所述的方法。

第五方面，本申请实施例提供了一种计算机产品，其中，上述计算机程序产品包括存储了计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质，上述计算机程序可操作来使计算机执行如本申请实施例第一方面任一方法中所描述的部分或全部步骤。该计算机程序产品可以为一个软件安装包。