[发明专利]一种基于FPGA实现电机控制的方法和装置

权利要求书

1.一种基于FPGA实现电机控制的方法，其特征在于，所述的方法包括：

获取介质进入信号；

对所述介质进入信号进行采样，得到采样信号；

根据所述采样信号确定介质张数统计值；

获取检测组件信号；所述检测组件信号用于表征检测组件的遮挡状态；

根据所述检测组件信号确定介质张数统计锁存值；

采用所述介质张数统计值和所述介质张数统计锁存值，确定介质承载组件的下移时刻点；

在所述下移时刻点，控制所述介质承载组件下移。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述介质张数统计值包括第一介质张数统计值；所述对所述介质进入信号进行采样，得到采样信号的步骤，包括：

对所述介质进入信号进行一次采样，得到第一采样信号；

所述根据所述采样信号确定介质张数统计值的步骤，包括：

检测所述第一采样信号中的上升沿信号；

统计所述第一采样信号中的上升沿信号的个数，将所述第一采样信号中的上升沿信号的个数确定为所述第一介质张数统计值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述介质张数统计值包括第二介质张数统计值；所述对所述介质进入信号进行采样，得到采样信号的步骤，包括：

对所述介质进入信号进行二次采样，得到第二采样信号和第三采样信号；

所述根据所述述采样信号确定介质张数统计值的步骤，包括：

当从所述第二采样信号中检测到上升沿信号时，确定所述第三采样信号的电平状态；

当所述电平状态为低电平时，将检测到所述第二采样信号的上升沿信号的时刻确定为统计时刻点；

统计所述统计时刻点的个数，将所述统计时刻点的个数确定为所述第二介质张数统计值。

4.根据权利要求1或2或3所述的方法，其特征在于，所述介质张数统计锁存值包括第一介质张数统计锁存值；所述根据所述检测组件信号确定介质张数统计锁存值的步骤，包括：

当检测到所述检测组件信号中的上升沿信号时，将所述介质张数统计值确定为所述第一介质张数统计锁存值。

5.根据权利要求1或2或3所述的方法，其特征在于，所述介质张数统计锁存值包括第二介质张数统计锁存值；所述根据所述检测组件信号确定介质张数统计锁存值的步骤，包括：

当检测到所述检测组件信号中的下降沿信号时，将预设重置值确定为所述第二介质张数统计锁存值。

6.根据权利要求1或2或3所述的方法，其特征在于，所述采用所述介质张数统计值和所述介质张数统计锁存值，确定所述介质承载组件的下移时刻点的步骤，包括：

计算所述介质张数统计锁存值与预设统计常量的加和；

确定所述加和等于所述介质张数统计值的检测时刻点；

将所述检测时刻点确定为所述介质承载组件的下移时刻点。

7.根据权利要求1或2或3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当满足预设停止条件时，控制所述介质承载组件停止下移。

8.一种基于FPGA实现电机控制的装置，其特征在于，包括：

介质进入信号获取模块，用于获取介质进入信号；

采样模块，用于对所述介质进入信号进行采样，得到采样信号；

介质张数统计值确定模块，用于根据所述采样信号确定介质张数统计值；

检测组件信号获取模块，用于获取检测组件信号；所述检测组件信号用于表征检测组件的遮挡状态；

介质张数统计锁存值确定模块，用于根据所述检测组件信号确定介质张数统计锁存值；

下移时刻点确定模块，用于采用所述介质张数统计值和所述介质张数统计锁存值，确定介质承载组件的下移时刻点；

下移控制模块，用于在所述下移时刻点，控制所述介质承载组件下移。