[发明专利]一种基于FPGA实现电机控制的方法和装置有效

专利信息
申请号: 202010358079.0 申请日: 2020-04-29
公开(公告)号: CN113268016B 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: 刘华;朱忆军 申请(专利权)人: 深圳怡化电脑股份有限公司;深圳市怡化时代科技有限公司;深圳市怡化金融智能研究院
主分类号: G05B19/042 分类号: G05B19/042
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 吴文心
地址: 518067 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 fpga 实现 电机 控制 方法 装置
【说明书】:

发明实施例提供了一种基于FPGA实现电机控制的方法和装置,包括:获取介质进入信号;对介质进入信号进行采样,得到采样信号;根据采样信号确定介质张数统计值;获取检测组件信号;根据检测组件信号确定介质张数统计锁存值;采用介质张数统计值和介质张数统计锁存值,确定介质承载组件的下移时刻点;在下移时刻点,控制介质承载组件在容器中下移。检测组件介质承载组件通过本发明实施例,可以根据介质张数统计值和介质张数统计锁存值确定介质承载组件的下移时刻点介质承载组件,以保证介质承载组件在合适的时刻下移。

技术领域

本发明涉及移动控制技术领域,特别是涉及一种基于FPGA实现电机控制的方法和一种基于FPGA实现电机控制的装置。

背景技术

如图1所示,在现有技术中,容器收取介质时,会通过收纳组件101高速转动将介质带入容器,介质在进入容器后,会飘落至介质承载组件102上。而随着介质承载组件102上的介质越来越多,介质会对检测组件103产生的信号形成遮挡,此时电机104会带动介质承载组件102逐渐下移,为后续进入的介质提供空间。

然而,介质在飘落过程中,检测组件信号会叠加形成一个占空比和频率均随机的脉冲信号,在这种情况下,即使检测到检测组件产生了遮挡信号,也无法确定是否需要下移介质承载组件。

发明内容

鉴于上述问题,提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种基于FPGA实现电机控制的方法和相应的一种基于FPGA实现电机控制的装置,通过FPGA的运算与控制技术,解决了当检测到检测组件产生了遮挡信号,也无法确定是否需要下移介质承载组件的问题。

为了解决上述问题,本发明实施例公开了一种基于FPGA实现电机控制的方法,包括:

获取介质进入信号;

对所述介质进入信号进行采样,得到采样信号;

根据所述采样信号确定介质张数统计值;

获取检测组件信号;

根据所述检测组件信号确定介质张数统计锁存值;

采用所述介质张数统计值和所述介质张数统计锁存值,确定所述介质承载组件的下移时刻点;

在所述下移时刻点,控制所述介质承载组件下移。

可选地,所述介质张数统计值包括第一介质张数统计值;所述对所述介质进入信号进行采样,得到采样信号的步骤,包括:

对所述介质进入信号进行一次采样,得到第一采样信号;

所述根据所述采样信号确定介质张数统计值的步骤,包括:

检测所述第一采样信号中的上升沿信号;

统计所述第一采样信号中的上升沿信号的个数,将所述第一采样信号中的上升沿信号的个数确定为所述第一介质张数统计值。

可选地,所述介质张数统计值包括第二介质张数统计值;所述对所述介质进入信号进行采样,得到采样信号的步骤,包括:

对所述介质进入信号进行二次采样,得到第二采样信号和第三采样信号;

所述根据所述述采样信号确定介质张数统计值的步骤,包括:

当从所述第二采样信号中检测到上升沿信号时,确定所述第三采样信号的电平状态;

当所述电平状态为低电平时,将检测到所述第二采样信号的上升沿信号的时刻确定为统计时刻点;

统计所述统计时刻点的个数,将所述统计时刻点的个数确定为所述第二介质张数统计值。

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