[发明专利]基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法有效

专利信息
申请号: 202010358768.1 申请日: 2020-04-29
公开(公告)号: CN111526069B 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 张勃;周跃;陈道应 申请(专利权)人: 深圳市吉祥腾达科技有限公司
主分类号: H04L43/08 分类号: H04L43/08;H04L43/50
代理公司: 深圳市海顺达知识产权代理有限公司 44831 代理人: 谢群锋
地址: 518000 广东省深圳市南山区西丽*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 基于 sd wan 并发 隧道 性能 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤S10,建立测试环境,测试环境包括第一待测设备、第二待测设备和第一PC设备,其中,第一待测设备为主节点,第二待测设备为数据中心;

步骤S10具体包括:

步骤S1,第一待测设备的LAN口与第一PC设备连接;

步骤S2,第二待测设备安装IPERF工具;

步骤S3,第一待测设备登录第一PC设备所处的服务器,并在服务器内创建第一账号信息,

步骤S20,第二待测设备通过第一账号信息在第一PC设备获取第一待测设备的第一IP地址;

步骤S30,第二待测设备创建至少两个分支节点,每个分支节点基于第一IP地址分别与第一待测设备建立SD-WAN连接,模拟多个分支节点与主节点之间建立SD-WAN隧道;

步骤S40,第一待测设备进行授权设置;

步骤S50,第二待测设备运行IPERF工具,使得每个分支节点并发和主节点之间进行跑数据流。

2.如权利要求1所述基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法,其特征在于,还包括步骤:

步骤S60,通过第一PC设备查看测试结果。

3.如权利要求1所述基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法,其特征在于,步骤S20具体包括:

步骤S21,第二待测设备接收第一待测设备发送过来的第一账号信息;

步骤S22,第二待测设备根据第一账号信息登录第一PC设备所处的服务器以获取第一IP地址。

4.如权利要求1所述基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法,其特征在于,步骤S50具体包括:

步骤S51,第二待测设备运行IPERF工具;

步骤S52,基于Linux的定时任务方式对每个分支节点和第一待测设备的主节点进行配置;

步骤S53,使得每个分支节点并发和主节点之间进行跑数据流。

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