[发明专利]基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法

说明书

本发明公开了一种基于SD‑WAN的并发隧道性能测试方法，包括以下步骤：步骤S10，建立测试环境，测试环境包括第一待测设备、第二待测设备和第一PC设备；步骤S20，第二待测设备通过第一PC设备获取第一待测设备的第一IP地址；步骤S30，第二待测设备创建至少两个分支节点，每个分支节点基于第一IP地址分别与第一待测设备建立SD‑WAN连接；步骤S40，第一待测设备进行授权设置；步骤S50，第二待测设备运行IPERF工具，使得每个分支节点并发和主节点之间进行跑数据流。本发明，测试成本低且简化测试环境，能够利用较少设备实现并发测试。

技术领域

本发明属于SD-WAN组网测试技术领域，尤其涉及一种基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法。

背景技术

目前，SD-WAN是一种新兴的新技术，适用于路由器上，对于SD-WAN的多节点并发性能测试尤为关键，现有测试方法大多需要利用多达十余台设备进行并发测试，测试成本高且所搭建的测试环境复杂。

因此，现有技术有待于改善。

发明内容

本发明的主要目的在于提出一种基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法，测试成本低且简化测试环境，能够利用较少设备实现并发测试。

本发明的一种基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法，包括以下步骤：

步骤S10，建立测试环境，测试环境包括第一待测设备、第二待测设备和第一PC设备；

步骤S20，第二待测设备通过第一PC设备获取第一待测设备的第一IP地址；

步骤S30，第二待测设备创建至少两个分支节点，每个分支节点基于第一IP地址分别与第一待测设备建立SD-WAN连接；

步骤S40，第一待测设备进行授权设置；

步骤S50，第二待测设备运行IPERF工具，使得每个分支节点并发和主节点之间进行跑数据流。

优选地，还包括步骤：

步骤S60，通过第一PC设备查看测试结果。

优选地，步骤S10具体包括：

步骤S1，第一待测设备的LAN口与第一PC设备连接；

步骤S2，第二待测设备安装IPERF工具；

步骤S3，第一待测设备登录第一PC设备所处的服务器，并在服务器内创建第一账号信息。

优选地，步骤S20具体包括：

步骤S21，第二待测设备接收第一待测设备发送过来的第一账号信息；

步骤S22，第二待测设备根据第一账号信息登录第一PC设备所处的服务器以获取第一IP地址。

优选地，步骤S50具体包括：

步骤S51，第二待测设备运行IPERF工具；

步骤S52，基于Linux的定时任务方式对每个分支节点和第一待测设备的主节点进行配置；

步骤S53，以使得每个分支节点并发和主节点之间进行跑数据流。

本发明的基于SD-WAN的并发隧道性能测试方法，一台待测设备作为主节点，一台设备作为数据中心，通过作为数据中心的一个设备中模拟多个分支节点与主节点之间建立SD-WAN隧道，然后在各分支节点上建立分支节点到主节点之间的数据流来实现多分支节点的并发隧道性能测试。测试成本低且简化测试环境，能够利用较少设备实现并发测试。

附图说明