[发明专利]一种频综综合测试系统及测试方法有效

专利信息
申请号: 202010360717.2 申请日: 2020-04-30
公开(公告)号: CN111505593B 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: 李玉爽;陈利彬;杜强燚;徐超;聂涛 申请(专利权)人: 北京无线电测量研究所
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 厉洋洋
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 综合测试 系统 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种频综综合测试系统,其特征在于,包括:PXI机箱、PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件、开关阵列组件、路由器和至少一种测试仪器;

所述PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件和开关阵列组件依次插入PXI机箱的槽位中,并通过PXI总线相互连接;所述同步分配组件的同步信号输入端与待测频综的同步信号输出端连接,其同步信号输出端与所述网络数传组件和至少一种所述测试仪器连接;所述网络数传组件的网络端口与待测频综的网络端口连接;所述开关阵列组件的输入端与所述待测频综的测试端口连接,其输出端与所述至少一种测试仪器连接;所述至少一种测试仪器通过所述路由器与所述PXI控制器连接;

所述同步分配组件包括:可编程逻辑控制器FPGA、第一光耦隔离芯片、至少一个第二光耦隔离芯片、差分接收芯片和至少一个差分发送芯片;所述可编程逻辑控制器FPGA包括第一IP核;

所述可编程逻辑控制器FPGA的同步信号输入端通过第一光耦隔离芯片和/或差分接收芯片与所述待测频综的同步信号输出端连接,FPGA的至少一个同步信号输出端通过第二光耦隔离芯片和/或差分发送芯片连接至前面板,供所述测试仪器设备使用;FPGA的一个同步信号输出端与PXI总线双向连接,且FPGA通过所述第一IP核与PXI总线双向连接。

2.根据权利要求1所述的频综综合测试系统,其特征在于,根据PXI控制器的控制,所述同步分配组件接收或自生成待测频综的同步信号,所述网络数传组件以所述同步信号为基础实现对待测频综的控制;所述至少一种测试仪器以所述同步信号为基础通过开关阵列组件接收待测频综发送的射频信号,并将测试结果通过路由器传输给PXI控制器,完成待测频综的同步测试。

3.根据权利要求1所述的频综综合测试系统,其特征在于,所述同步分配组件还包括晶振,所述可编程逻辑控制器FPGA的同步输入端与所述晶振的输出端连接,所述晶振用于在触发模式为内部触发时,生成同步信号。

4.根据权利要求1至3任一项所述的频综综合测试系统,其特征在于,所述网络数传组件包括:核心控制器、光电转换模块和存储器;所述核心控制器包括千兆网控制器、DDR控制器和第二IP核;

所述核心控制器的同步信号端与PXI总线双向连接,且核心控制器通过所述第二IP核与PXI总线双向连接;所述核心控制器的千兆网控制器端口与所述光电转换模块双向连接,所述核心控制器的DDR控制器端口与所述存储器双向连接;所述光电转换模块与待测频综的网络端口连接。

5.根据权利要求4所述的频综综合测试系统,其特征在于,所述核心控制器采用核心控制器XilinxZynq-7035,所述光电转换模块采用RJ45-SFP光电转换模块。

6.根据权利要求1至3任一项所述的频综综合测试系统,其特征在于,所述开关阵列组件包括双路单刀六掷开关、第一端接开关和第二端接开关;

所述双路单刀六掷开关的第一路的分支端分别与所述至少一种测试仪器的射频输入端相连,其第一路的路公共端与第二路的公共端相连,第二路的分支端分别与第一端接开关的公共端和第二端接开关的公共端相连;所述第一端接开关的分支端和所述第二端接开关的分支端分别与所述待测频综的测试端口相连。

7.根据权利要求1至3任一项所述的频综综合测试系统,其特征在于,所述至少一种测试仪器包括频谱仪、相噪分析仪、频率计、检波器和示波器。

8.根据权利要求1至3任一项所述的频综综合测试系统,其特征在于,所述路由器通过LXI总线与所述PXI控制器连接。

9.一种频综综合测试方法,其特征在于,利用权利要求1至8任一项所述的频综综合测试系统实现如下步骤:

根据PXI控制器的控制,同步分配组件接收或自生成待测频综的同步信号,网络数传组件以所述同步信号为基础实现对待测频综的控制;测试仪器以所述同步信号为基础通过开关阵列组件接收待测频综发送的射频信号,并将测试结果通过路由器传输给PXI控制器,完成待测频综的同步测试。

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