[发明专利]一种频综综合测试系统及测试方法有效

专利信息
申请号: 202010360717.2 申请日: 2020-04-30
公开(公告)号: CN111505593B 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: 李玉爽;陈利彬;杜强燚;徐超;聂涛 申请(专利权)人: 北京无线电测量研究所
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 厉洋洋
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 综合测试 系统 测试 方法
【说明书】:

发明涉及一种频综综合测试系统及测试方法。测试系统包括:PXI机箱、PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件、开关阵列组件、路由器和至少一种测试仪器;同步分配组件的同步信号输入端与待测频综的同步信号输出端连接,其同步信号输出端与网络数传组件和至少一种测试仪器连接;网络数传组件的网络端口与待测频综的网络端口连接;开关阵列组件的输入端与待测频综的测试端口连接,其输出端与至少一种测试仪器连接;至少一种测试仪器通过路由器与所述PXI控制器连接。本发明实施例提供的频综综合测试系统可实现待测频综的自动化同步测试,保证测试结果的准确性和可靠性,大大提高了测试效率,缩减了测试时间,降低了人力成本。

技术领域

本发明涉及仿真测试技术领域,尤其涉及一种频综综合测试系统及测试方法。

背景技术

频综分系统是雷达系统的组成部分,为雷达系统提供频率基准信号、发射激励信号、本振信号及激励信号等。其信号种类多、测试指标复杂,工作量大,以往的手动测试方法在面对批产后的庞大的测试需求量时,难以保证测试结果的一致性和可靠性,同时也难以验证系统长时间的工作稳定性,测试效率低,测试时间与人力成本消耗过高。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术存在的问题,提供一种频综综合测试系统及测试方法。

为解决上述技术问题,本发明实施例提供一种频综综合测试系统,包括:PXI机箱、PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件、开关阵列组件、路由器和至少一种测试仪器;

所述PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件和开关阵列组件依次插入PXI机箱的槽位中,并通过PXI总线相互连接;所述同步分配组件的同步信号输入端与待测频综的同步信号输出端连接,其同步信号输出端与所述网络数传组件和至少一种所述测试仪器连接;所述网络数传组件的网络端口与待测频综的网络端口连接;所述开关阵列组件的输入端与所述待测频综的测试端口连接,其输出端与所述至少一种测试仪器连接;所述至少一种测试仪器通过所述路由器与所述PXI控制器连接。

为解决上述技术问题,本发明实施例还提供一种频综综合测试方法,利用上述技术方案所述的频综综合测试系统实现如下步骤:

根据PXI控制器的控制,同步分配组件接收或自生成待测频综的同步信号,网络数传组件以所述同步信号为基础实现对待测频综的控制;测试仪器以所述同步信号为基础通过开关阵列组件接收待测频综发送的射频信号,并将测试结果通过路由器传输给PXI控制器,完成待测频综的同步测试。

本发明的有益效果是:通过PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件、开关阵列组件、路由器和至少一种测试仪器的协同配合,可实现待测频综的自动化同步测试,保证测试结果的准确性和可靠性,大大提高了测试效率,缩减了测试时间,降低了人力成本。

本发明附加的方面及其的优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本发明实践了解到。

附图说明

图1为本发明实施例提供的频综综合测试系统结构框图;

图2为本发明一实施例提供的同步分配组件结构框图;

图3为本发明另一实施例提供的网络数传组件结构框图;

图4为本发明另一实施例提供的开关阵列组件结构框图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述,所举实例只用于解释本发明,并非用于限定本发明的范围。

图1为本发明实施例提供的频综综合测试系统结构框图。如图1所示,该系统包括:PXI机箱1、PXI控制器2、同步分配组件3、网络数传组件4、开关阵列组件、路由器18和至少一种测试仪器。

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