[发明专利]低维高亮绿光发射InGaN基异质结二极管及其制备方法在审
申请号: | 202010361146.4 | 申请日: | 2020-04-30 |
公开(公告)号: | CN111613705A | 公开(公告)日: | 2020-09-01 |
发明(设计)人: | 姜明明;刘洋;阚彩侠;万鹏;周祥博;马琨傑;唐楷 | 申请(专利权)人: | 南京航空航天大学 |
主分类号: | H01L33/26 | 分类号: | H01L33/26;H01L33/00 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 秦秋星 |
地址: | 210016 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 低维高 亮绿 发射 ingan 基异质结 二极管 及其 制备 方法 | ||
本发明公开了一种新型低维高亮绿光发射InGaN基异质结二极管及其制备方法,此绿光发射二极管由6个部分组成:(a)蒸镀在p‑InGaN衬底上的Ni/Au电极;(b)p‑InGaN衬底;(c)蓝宝石衬底;(d)金属In电极;(e)n‑ZnO:Ga微米线;(f)石英衬底。本发明采用载流子浓度高,导电性能优异的Ga掺杂n‑ZnO微米线,将单根n‑ZnO:Ga微米线与p‑InGaN(禁带宽度为2.30eV)衬底相结合构筑异质结发光二极管。此发光二极管展现出了良好的整流特性,在此二极管两端施加偏压时,出现了高强、稳定的绿光发射,促进了绿光二极管在生产生活中的应用。
技术领域
本发明涉及半导体光电子器件技术领域,涉及发光二极管,具体涉及低维高亮绿光发射InGaN基异质结二极管及其制备方法。
背景技术
在种植业领域,绿光补光可以促进植物幼苗的生长;在显示领域,绿光可以用于全色屏幕、交通信号;在医疗领域,绿光可以改善因为过度劳累,以及压力大、精神紧张引起的皮肤粗糙,还有黑头、粉刺等。随着社会的发展,对绿光的需求也会越来越高,发展高效、稳定的绿光光源也将是一个需要深究的研究方向。ZnO作为一种直接带隙半导体,在常温具有很高的激子结合能(60eV),同时,以气相沉积法生长的ZnO微纳结构具有优异的结晶度,使其在微纳光电器件领域得到了广泛的研究。InGaN为第三代半导体,其禁带宽度从0.7eV到3.4eV连续可调,对应的波长涵盖了紫外—可见—近红外范围,同时,具有较高的载流子迁移率,在LED、太阳能电池领域具有很高的应用价值。虽然许多研究小组对n-ZnO/p-InGaN异质结绿光发光二极管进行了研究,但是对低维高亮、稳定的p-InGaN基异质结绿光二极管的构筑却鲜有报道。低维异质结结构是构筑高性能发光半导体器件的基石,具有极大的研究、应用价值。因此,本发明基于低维n-ZnO:Ga微米线,结合绿光发射p-InGaN衬底,构筑异质结绿光发光器件。由于Ga元素的掺杂,极大的提高了ZnO微米线载流子浓度,提高了异质结载流子的注入效率,实现了高亮、稳定的低维高亮绿光异质结二极管的构筑。
发明内容
本发明的目的在于提供一种低维高亮绿光发射InGaN基异质结二极管及其制备方法。采用结晶质量优异的单根n-ZnO:Ga微米线与禁带宽度为2.30eV的p-InGaN衬底构筑异质结二极管,在2μA的低电流下,即可实现绿光发射,随着电流的增加,即可得到高强、稳定的绿光。该低维高亮绿光发光二极管可被用于白光LED、生物医学等领域。
为实现上述目的,本发明所述低维高亮绿光发射InGaN基异质结二极管的制备方法,包括以下步骤:
(1)将p-InGaN衬底高温退火,之后对其进行多次清洗;
(2)在(1)中清洗过的p-InGaN上蒸镀Ni/Au电极;
(3)将石英衬底和蓝宝石衬底清洗干净;
(4)将清洗好的p-InGaN衬底和蓝宝石衬底固定在石英衬底上,将单根n-ZnO:Ga微米线置于二者之上,取一块In电极,置于蓝宝石一测的微米线上,作为阴极,即可构筑低维高亮绿光发射二极管。
步骤(1)所述p-InGaN衬底退火、清洗的方法:将p-InGaN基底放入高温管式炉中,保持氮气气氛,以750℃~850℃退火,退火时间为1.5小时;退火之后将衬底取出,以氮气枪使其迅速降温冷却;然后将其分别放入三氯乙烯、丙酮、乙醇、去离子水中,以超声清洗机清洗20分钟;再将其以去离子水清洗三次;最后,将清洗过的衬底以氮气枪吹干。其中,本发明采用的p-InGaN衬底的尺寸为3cm*2.5cm。
步骤(2)所述p-InGaN衬底Ni/Au电极的制备:用掩模板将p-InGaN衬底覆盖住一部分,利用电子束蒸镀仪,在衬底上蒸镀Ni和Au金属,在裸露部分就可以得到Ni/Au电极,电极厚度为20~40nm。所制备的Ni/Au电极与p-InGaN衬底间为欧姆接触,作为异质结发光二极管的阳极。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京航空航天大学,未经南京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010361146.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种空转锁头及机械锁
- 下一篇:一种外手柄连接结构及智能锁头组件