[发明专利]半导体元件在审

专利信息
申请号: 202010361876.4 申请日: 2020-04-30
公开(公告)号: CN111952422A 公开(公告)日: 2020-11-17
发明(设计)人: 张耀儒;廖文禄;张永富;张翔;陈孟扬;胖韵馨;萧翊 申请(专利权)人: 晶元光电股份有限公司
主分类号: H01L33/40 分类号: H01L33/40;H01L33/44;H01L33/46
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 半导体 元件
【说明书】:

发明公开一种半导体元件,其包括基底、半导体结构及导电反射结构。基底具有一第一侧以及相对于第一侧的一第二侧。半导体结构位于基底的第一侧。导电反射结构位于基底的第二侧。导电反射结构包括一金属氧化结构以及一金属结构。金属氧化结构位于金属结构与基底之间。金属氧化结构直接接触第二侧的表面。

技术领域

本发明涉及半导体元件,特别是涉及半导体元件,如发光二极管。

背景技术

半导体元件的用途十分广泛,相关材料的开发研究也持续进行。举例来说,包含三族及五族元素的III-V族半导体材料可应用于各种光电半导体元件如发光二极管(Lightemitting diode,LED)、激光二极管(Laser diode,LD)、太阳能电池(Solar cell)等,能用于照明、医疗、显示、通讯、感测、电源系统等领域。其中,作为半导体元件之一的发光二极管具有耗电量低以及寿命长等优点,因此大量被应用于各种领域。随着科技的发展,现今对于半导体元件仍存在许多技术研发的需求。

发明内容

本发明内容提供一种半导体元件,其包括基底、半导体结构及导电反射结构。基底具有一第一侧以及相对于第一侧的一第二侧。半导体结构位于基底的第一侧。导电反射结构位于基底的第二侧。导电反射结构包括一金属氧化结构以及一金属结构。金属氧化结构位于金属结构与基底之间。金属氧化结构直接接触第二侧的表面。

附图说明

图1A为本发明一实施例的半导体元件的结构上视图;

图1B为图1A的半导体元件沿A-A’线的剖面结构示意图;

图1C为本发明一实施例的半导体元件的剖面结构示意图;

图1D为本发明一实施例的半导体元件的剖面结构示意图;

图1E为本发明一实施例的半导体元件的剖面结构示意图;

图1F为本发明一实施例的半导体元件的剖面结构示意图;

图1G为本发明一实施例的半导体元件的剖面结构示意图;

图1H为本发明一实施例的半导体元件的剖面结构示意图;

图1I为本发明一实施例的半导体元件的剖面结构示意图;

图1J为本发明一实施例的半导体元件的剖面结构示意图;

图2A为本发明一实施例的半导体元件的结构上视图;

图2B为图2A的半导体元件沿B-B’线的剖面结构示意图;

图3为本发明一实施例的半导体元件的剖面结构示意图;

图4A为本发明一实施例的半导体元件的剖面结构示意图;

图4B为本发明一实施例的图案化的金属结构示意图;

图4C为图4B中的一单元图案的放大图;

图4D为本发明一实施例的图案化的金属结构的示意图;

图5为本发明一实施例的半导体元件的剖面结构示意图;

图6为本发明一实施例的半导体元件的剖面结构示意图;

图7为本发明一实施例的半导体元件的封装结构示意图。

符号说明

10、20、30、40、50、60、70、80、90、90a、90b、90c、90d、90e:半导体元件

100:基底

100a:第一侧

100b:第二侧

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