[发明专利]标定方法、装置和系统在审
申请号: | 202010367126.8 | 申请日: | 2020-04-30 |
公开(公告)号: | CN111598956A | 公开(公告)日: | 2020-08-28 |
发明(设计)人: | 马政;黄瑞;闫国行;石建萍 | 申请(专利权)人: | 商汤集团有限公司 |
主分类号: | G06T7/80 | 分类号: | G06T7/80 |
代理公司: | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人: | 靳玫 |
地址: | 中国香港新界沙田香港科学园科技*** | 国省代码: | 香港;81 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 标定 方法 装置 系统 | ||
1.一种标定方法,其特征在于,所述方法包括:
获取待标定的图像采集设备拍摄的待处理图像,所述待处理图像中包括相对于所述待标定的图像采集设备预先设置的标定板;
检测所述标定板上的目标点在所述待处理图像上的第一像素位置;
确定与所述第一像素位置距离最近的目标像素位置,并根据单应性矩阵集合中与所述目标像素位置对应的目标单应性矩阵确定所述待标定的图像采集设备的单应性矩阵;其中,一个目标单应性矩阵对应的目标像素位置为标定板上的目标点在一个参考的图像采集设备处于一种位姿下拍摄的训练图像中的像素位置。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述单应性矩阵集合采用以下步骤确定:
获取参考的图像采集设备在不同位姿下拍摄的训练图像,所述训练图像中包括相对于所述参考的图像采集设备预先设置的参照物和所述标定板;
对于各个训练图像,分别获取所述标定板上的目标点在所述训练图像上的目标像素位置,并根据所述参照物在所述训练图像上的第二像素位置以及所述参照物在物理空间中的物理位置确定所述训练图像对应的目标单应性矩阵;
建立各个位姿下的目标单应性矩阵与所述位姿下的目标像素位置之间的对应关系,得到所述单应性矩阵集合。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述参照物在所述训练图像上的第二像素位置以及所述参照物在物理空间中的物理位置确定所述训练图像对应的目标单应性矩阵,包括:
按照预设的聚类半径对各个目标像素位置进行聚类,得到多个簇;
分别确定各个簇的聚类中心;
针对任一个簇,从该簇的目标像素位置中确定出与该簇的聚类中心距离最近的目标像素位置作为该簇的候选目标像素位置,并从所述训练图像中提取各个簇的候选目标像素位置对应的候选训练图像;
分别根据所述参照物在各个候选训练图像上的第二像素位置以及所述参照物在物理空间中的物理位置,确定所述各个候选训练图像对应的目标单应性矩阵;
所述建立各个位姿下的目标单应性矩阵与所述位姿下的目标像素位置之间的对应关系,得到所述单应性矩阵集合,包括:
建立各个候选目标单应性矩阵与各个候选目标像素位置之间的对应关系,得到所述单应性矩阵集合。
4.根据权利要求1至3任意一项所述的方法,其特征在于,特定像素位置采用以下步骤确定:
对待检测图像进行角点检测,获取所述标定板上的角点在所述待检测图像上的第三像素位置;所述待检测图像中包括所述标定板的图像;
根据所述第三像素位置计算所述目标点在所述待检测图像上的特定像素位置;
其中,当所述待检测图像为所述待处理图像时,所述特定像素位置为所述第一像素位置;当所述待检测图像为所述训练图像时,所述特定像素位置为所述目标像素位置。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,对待检测图像进行角点检测,获取所述标定板上的角点在所述待检测图像上的第三像素位置,包括:
检测所述待检测图像内或者所述待检测图像上的感兴趣区域内的各个像素点为角点的置信度;
确定置信度大于预设的置信度阈值的像素点为所述标定板上的角点在所述待检测图像上的第三像素位置,所述置信度阈值根据采集所述待检测图像时的光照强度设置。
6.根据权利要求1至5任意一项所述的方法,其特征在于,所述训练图像包括所述参考的图像采集设备在第一预设位置处拍摄的第一训练图像,以及所述参考的图像采集设备离开并返回所述第一预设位置后拍摄的第二训练图像。
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