[发明专利]一种三维重建方法及装置在审
申请号: | 202010386588.4 | 申请日: | 2020-05-09 |
公开(公告)号: | CN111583397A | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
发明(设计)人: | 张利斌;韦亚一;马乐;高澎铮 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G06T17/00 | 分类号: | G06T17/00;G06T7/13;G01B15/04 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 柳虹 |
地址: | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 三维重建 方法 装置 | ||
1.一种三维重建方法,其特征在于,所述方法包括:
获取电子束图像,所述电子束图像为利用电子束扫描设备对待测结构进行扫描得到的;
利用电子束成像模型,拟合得到所述电子束图像对应的模型参数;所述模型参数体现所述待测结构的三维特性;
利用所述模型参数进行所述待测结构的三维重建。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:对所述电子束图像进行轮廓提取,得到至少一条轮廓线,则所述利用电子束成像模型,拟合得到所述电子束图像对应的模型参数,包括:
利用电子束成像模型,基于与所述轮廓线垂直的至少一条线条上的灰度分布信息,拟合得到各个线条对应的模型参数,作为所述电子束图像对应的模型参数。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,利用边缘轮廓算法对所述电子束图像进行轮廓提取,所述轮廓算法包括以下算法的至少一种:绝对阈值算法、相对阈值算法、频域算法、相关算法。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电子束成像模型包括第一散射模型和第二散射模型,第一散射模型对应的边缘角度小于或等于预设角度,第二散射模型对应的边缘角度大于所述预设角度,则所述利用电子束成像模型,拟合得到所述电子束图像对应的模型参数,包括:
确定所述电子束图像对应的边缘角度是否大于预设角度,若是,则利用所述第二散射模型拟合得到所述电子束图像对应的模型参数,若否,则利用所述第一散射模型拟合得到所述电子束图像对应的模型参数。
5.根据权利要求1-4任意一项所述的方法,其特征在于,所述模型参数包括以下参数的至少一种:结构宽度、结构高度、上升沿倾角、下降沿倾角、成像衰减长度、上升沿坐标、下降沿坐标。
6.根据权利要求1-4任意一项所述的方法,其特征在于,利用拟合算法拟合得到所述电子束图像对应的模型参数,所述拟合算法包括以下拟合方法中的一种:参数值遍历法、牛顿法、梯度下降法、共轭梯度法、最小二乘法、神经网络法、机器学习法。
7.根据权利要求1-4任意一项所述的方法,其特征在于,所述待测结构包括:凸起线条结构、凹槽结构或孔型结构。
8.一种三维重建装置,其特征在于,所述装置包括:
图像获取单元,用于获取电子束图像,所述电子束图像为利用电子束扫描设备对待测结构进行扫描得到的;
参数获取单元,用于利用电子束成像模型,拟合得到所述电子束图像对应的模型参数;所述模型参数体现所述待测结构的三维特性;
重建单元,用于利用所述模型参数进行所述待测结构的三维重建。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述参数获取单元包括:
轮廓提取单元,用于对所述电子束图像进行轮廓提取,得到至少一条轮廓线;
参数获取子单元,用于利用电子束成像模型,基于与所述轮廓线垂直的至少一条线条上的灰度分布信息,拟合得到各个线条对应的模型参数,作为所述电子束图像对应的模型参数。
10.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述电子束成像模型包括第一散射模型和第二散射模型,第一散射模型对应的边缘角度小于或等于预设角度,第二散射模型对应的边缘角度大于所述预设角度,则所述参数获取单元具体用于:
确定所述电子束图像对应的边缘角度是否大于预设角度,若是,则利用所述第二散射模型拟合得到所述电子束图像对应的模型参数,若否,则利用所述第一散射模型拟合得到所述电子束图像对应的模型参数。
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