[发明专利]gamma调试方法和装置

权利要求书

1.一种gamma调试方法，其特征在于，包括：

根据预设gamma曲线确定待调试有机发光二极管OLED模组的低灰阶断层处对应的目标绑点；

根据所述目标绑点的前一绑点的红绿蓝RGB测量值，确定所述目标绑点对应的RGB调整值；

根据所述RGB测量值和所述RGB调整值，确定所述目标绑点的电压；

根据所述目标绑点的电压，对所述待调试OLED模组进行gamma调试；

所述根据所述目标绑点的前一绑点的RGB测量值，确定所述目标绑点对应的RGB调整值，包括：

根据所述RGB测量值，确定所述目标绑点的前一绑点的电压；

根据预设电压和所述前一绑点的电压，确定所述目标绑点对应的电压调整值；

根据所述电压调整值，确定所述RGB调整值。

2.根据权利要求1所述的gamma调试方法，其特征在于，所述根据所述RGB测量值和所述RGB调整值，确定所述目标绑点的电压，包括：

计算所述RGB测量值与所述RGB调整值的差值；

根据所述差值，确定所述目标绑点的RGB值；

根据所述目标绑点的RGB值，确定所述目标绑点的电压。

3.根据权利要求1所述的gamma调试方法，其特征在于，在所述根据预设gamma曲线确定待调试OLED模组的低灰阶断层处对应的目标绑点之前，还包括：

获取所述待调试OLED模组的亮度数据；

将所述亮度数据转换为像素数据。

4.根据权利要求3所述的gamma调试方法，其特征在于，所述根据预设gamma曲线确定待调试OLED模组的低灰阶断层处对应的目标绑点，包括：

基于所述像素数据，根据所述gamma曲线确定所述待调试OLED模组对应的多个绑点的亮度值；

根据所述亮度值，确定所述目标绑点。

5.一种gamma调试装置，其特征在于，包括：

第一确定模块，用于根据预设gamma曲线确定待调试OLED模组的低灰阶断层处对应的目标绑点；

第二确定模块，用于根据所述目标绑点的前一绑点的RGB测量值，确定所述目标绑点对应的RGB调整值；

第三确定模块，用于根据所述RGB测量值和所述RGB调整值，确定所述目标绑点的电压；

调试模块，用于根据所述目标绑点的电压，对所述待调试OLED模组进行gamma调试；

所述第二确定模块具体用于：

根据所述RGB测量值，确定所述目标绑点的前一绑点的电压；

根据预设电压和所述前一绑点的电压，确定所述目标绑点对应的电压调整值；

根据所述电压调整值，确定所述RGB调整值。

6.根据权利要求5所述的gamma调试装置，其特征在于，所述第三确定模块具体用于：

计算所述RGB测量值与所述RGB调整值的差值；

根据所述差值，确定所述目标绑点的RGB值；

根据所述目标绑点的RGB值，确定所述目标绑点的电压。

7.一种gamma调试装置，其特征在于，所述装置包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机指令，所述处理器执行所述计算机指令时实现权利要求1至4任一项所述的gamma调试方法。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机指令，当处理器执行所述计算机指令时，实现如权利要求1至4任一项所述的gamma调试方法。