[发明专利]gamma调试方法和装置

说明书

本申请提供一种gamma调试方法和装置，该方法通过待调试OLED模组的低灰阶断层处对应的目标绑点的前一绑点的RGB测量值，确定目标绑点对应的RGB调整值，进而，根据上述RGB测量值和RGB调整值，确定目标绑点的电压，根据该目标绑点的电压，对待调试OLED模组进行gamma调试，从而解决现有针对低灰阶绑点调试产生的低灰阶断层问题，而且，本申请实施例调试过程简单，低灰阶绑点采用上述方法调试，高灰阶绑点采用现有光学设备自动调节，无需变更gamma调试架构，可以有效提高产线直通率，缩减tact time，满足显示及大规模量产需求。

技术领域

本发明涉及OLED模组检测技术领域，尤其涉及一种gamma调试方法和装置。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)又称为有机电激光显示、有机发光半导体。OLED显示技术具有自发光、广视角、几乎无穷高的对比度、较低耗电、极高反应速度等优点。OLED显示技术广泛的运用于手机、数码摄像机、DVD机、个人数字助理(PDA)、笔记本电脑、汽车音响和电视。gamma源于CRT(显示器/电视机)的响应曲线，即其亮度与输入电压的非线性关系。gamma曲线是一种特殊的色调曲线，当gamma值等于1的时候，曲线为与坐标轴成45°的直线，这个时候表示输入和输出密度相同。高于1的gamma值将会造成输出暗化，低于1的gamma值将会造成输出亮化。

gamma调试是指更改gamma值以匹配OLED模组的中间灰度。OLED出厂时必须经过gamma调试，使得输出的灰阶亮度曲线与人眼感觉一致，即符合gamma指数曲线。

现有gamma调试方案中，针对低灰阶绑点调试，均采用固定赋值(目前为1或0)方式，由于屏体差异固定赋值过低，灰阶跨压较大，配合调光时，会导致低灰阶断层问题。

发明内容

为解决现有技术中存在的问题，本申请提供一种gamma调试方法和装置。

为了实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：

第一方面，本申请实施例提供一种gamma调试方法，该方法可以由处理器执行，该方法包括如下步骤：首先，根据预设gamma曲线确定待调试OLED模组的低灰阶断层处对应的目标绑点，其中，上述预设gamma曲线可以为G2.2曲线，待调试OLED模组可以根据实际情况确定，本申请实施例对此不做特别限制。其次，根据上述目标绑点的前一绑点的RGB测量值，确定上述目标绑点对应的RGB调整值，进而根据上述RGB测量值和RGB调整值，确定上述目标绑点的电压，根据上述目标绑点的电压，对上述待调试OLED模组进行gamma调试。这里，上述处理器可以获取上述目标绑点的前一绑点的RGB测量值，即上述目标绑点的前一绑点的RGB实测值，从而基于该RGB实测值确定目标绑点对应的RGB调整值，以便后续根据目标绑点对应的RGB调整值，对待调试OLED模组进行gamma调试，从而解决现有针对低灰阶绑点调试产生的低灰阶断层问题。

在一种可能的实现方式中，上述根据上述目标绑点的前一绑点的红绿蓝(redgreen blue，RGB)测量值，确定上述目标绑点对应的RGB调整值，包括：

根据上述RGB测量值，确定上述目标绑点的前一绑点的电压；

根据预设电压和上述前一绑点的电压，确定上述目标绑点对应的电压调整值；

根据上述电压调整值，确定所述RGB调整值。

其中，上述预设电压可以根据实际情况确定，例如，关闭OLED模组所需的最大电压，本申请实施例对此不做特别限制。

示例性的，根据预设电压和上述前一绑点的电压，确定上述目标绑点对应的电压调整值可以包括：

根据预设电压和上述目标绑点的前一绑点的电压的差值，确定上述目标绑点对应的电压调整值。