[发明专利]生产工艺参数处理的系统、方法和计算机设备有效

专利信息
申请号: 202010390618.9 申请日: 2020-05-11
公开(公告)号: CN111679636B 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: 董雁适 申请(专利权)人: 杭州睿疆科技有限公司
主分类号: G05B19/418 分类号: G05B19/418
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 贺才杰
地址: 311200 浙江省杭州市萧*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 生产工艺 参数 处理 系统 方法 计算机 设备
【权利要求书】:

1.一种生产工艺参数处理的系统,其特征在于,所述系统包括:仪表控制装置和中央控制中心,所述仪表控制装置记录数字仪表的测量值,并生成测量曲线集合:

所述中央控制中心根据多个批次的生产工艺参数获取黄金曲线,计算所述黄金曲线与每个批次测量曲线之间的匹配路径;其中,获取黄金曲线的方法包括通过对数据库中的测量值进行处理,得到记录生产过程的测量曲线,黄金曲线为根据历史生产工艺过程得到的测量曲线的均值;获取匹配路径的方法包括基于动态时间规整算法,通过对测量值的复制,实现对测量曲线局部的拉伸或者缩放,进而对没有对齐的两个测量曲线进行相似度的比较,通过测量值之间的距离,对测量值进行对齐,计算出两个测量曲线之间的最佳匹配路径;

所述中央控制中心根据所述匹配路径,通过对质量指标、所述测量曲线中的时间序列和仪表参数进行训练,得到参数优化模型;

所述中央控制中心根据目标质量指标,通过所述参数优化模型,得到所述目标质量指标对应的优化参数曲线。

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述中央控制中心还用于:

通过动态时间规整算法DTW,根据时间序列将所述黄金曲线和所述测量曲线中的测量值进行对齐,将所述对齐后的测量值作为支持向量回归机SVR的输入参数,其中,所述测量值包括所述仪表参数;

将所述质量指标作为所述SVR的输出参数,通过所述SVR对所述输入参数和所述输出参数进行训练,得到所述参数优化模型。

3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述中央控制中心还用于:

基于所述参数优化模型,通过非线性优化函数,根据所述目标质量指标反推得到所述优化参数曲线。

4.一种生产工艺参数处理的方法,其特征在于,所述方法包括:

根据多个批次的生产工艺参数获取黄金曲线,计算所述黄金曲线与每个批次测量曲线之间的匹配路径;其中,获取黄金曲线的方法包括通过对数据库中的测量值进行处理,得到记录生产过程的测量曲线,黄金曲线为根据历史生产工艺过程得到的测量曲线的均值;获取匹配路径的方法包括基于动态时间规整算法,通过对测量值的复制,实现对测量曲线局部的拉伸或者缩放,进而对没有对齐的两个测量曲线进行相似度的比较,通过测量值之间的距离,对测量值进行对齐,计算出两个测量曲线之间的最佳匹配路径;

根据所述匹配路径,通过对质量指标、所述测量曲线中的时间序列和仪表参数进行训练,得到参数优化模型;

根据目标质量指标,通过所述参数优化模型,得到所述目标质量指标对应的优化参数曲线。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述匹配路径,通过对质量指标、所述测量曲线中的时间序列和仪表参数进行训练,得到参数优化模型包括:

通过动态时间规整算法DTW,根据时间序列将所述黄金曲线和所述测量曲线中的测量值进行对齐,将所述对齐后的测量值作为支持向量回归机SVR的输入参数,其中,所述测量值包括所述仪表参数;

将所述质量指标作为所述SVR的输出参数,通过所述SVR对所述输入参数和所述输出参数进行训练,得到所述参数优化模型。

6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据目标质量指标,通过所述参数优化模型,得到所述目标质量指标对应的优化参数曲线包括:

基于所述参数优化模型,通过非线性优化函数,根据所述目标质量指标反推得到所述优化参数曲线。

7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据多个批次的生产工艺参数获取黄金曲线包括:

根据所述生产工艺参数确定测量曲线集合,在所述测量曲线集合中随机选取第一测量曲线和第二测量曲线,计算所述第一测量曲线与所述测量曲线集合中所有曲线的第一距离总和,获取所述第一测量曲线和所述第二测量曲线之间的匹配路径;

根据所述匹配路径和权重参数序列,得到所述黄金曲线,计算所述黄金曲线与所述测量曲线集合中所有曲线的第二距离总和,其中,所述权重参数序列包括所述第一测量曲线和所述第二测量曲线的权重参数;

在所述第二距离总和与所述第一距离总和的差值小于预设阈值的情况下,输出所述黄金曲线。

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