[发明专利]生产工艺参数处理的系统、方法和计算机设备有效

专利信息
申请号: 202010390618.9 申请日: 2020-05-11
公开(公告)号: CN111679636B 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: 董雁适 申请(专利权)人: 杭州睿疆科技有限公司
主分类号: G05B19/418 分类号: G05B19/418
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 贺才杰
地址: 311200 浙江省杭州市萧*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 生产工艺 参数 处理 系统 方法 计算机 设备
【说明书】:

本申请涉及一种生产工艺参数处理的系统、方法和计算机设备,其中,该生产工艺参数处理的方法包括:根据多个批次的生产工艺参数获取黄金曲线,计算该黄金曲线与每个批次测量曲线之间的匹配路径,根据该匹配路径,通过对质量指标、该测量曲线中的时间序列和仪表参数进行训练,得到参数优化模型,根据目标质量指标,通过该参数优化模型,得到该目标质量指标对应的优化参数曲线,解决了通过机器学习算法进行参数曲线推测,往往会出现过拟合的问题,提高了对生产工艺参数进行预测的准确度。

技术领域

本申请涉及工业控制技术领域,特别是涉及生产工艺参数处理的系统、方法和计算机设备。

背景技术

在精细化工、医药等生产过程中,存在大量不同的批次生产工艺,这些生产工艺一般都在反应釜等生产装置上实现。一套生产装置附属有各种数字仪表,例如,称重模块、温度计、压力计、流量计、气动阀、搅拌器等等,这些数字仪表可以被集散控制系统(Distributed Control System,简称为DCS)或者可编程逻辑控制器(Programmable LogicController,简称为PLC)控制,每个数字仪表的测量值都会被记录在实时数据库中。

在相关技术中,通过机器学习算法,基于每个批次的测量曲线和质量指标,得到一个质量预测模型,用于预测批次生产产品质量,以及反推出最优过程参数曲线,但该方法往往会出现过拟合问题,准确度低。

目前针对相关技术中通过机器学习算法进行参数曲线推测,往往会出现过拟合问题,准确度低的问题,尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请实施例提供了一种生产工艺参数处理的系统、方法和计算机设备和计算机可读存储介质,以至少解决相关技术中通过机器学习算法进行参数曲线推测,往往会出现过拟合问题,准确度低的问题。

第一方面,本申请实施例提供了一种生产工艺参数处理的系统,所述系统包括:仪表控制装置和中央控制中心,所述仪表控制装置记录数字仪表的测量值,并生成测量曲线集合:

所述中央控制中心根据多个批次的生产工艺参数获取黄金曲线,计算所述黄金曲线与每个批次测量曲线之间的匹配路径;

所述中央控制中心根据所述匹配路径,通过对质量指标、所述测量曲线中的时间序列和仪表参数进行训练,得到参数优化模型;

所述中央控制中心根据目标质量指标,通过所述参数优化模型,得到所述目标质量指标对应的优化参数曲线。

在其中一些实施例中,所述中央控制中心还用于:

通过动态时间规整算法DTW,根据时间序列将所述黄金曲线和所述测量曲线中的测量值进行对齐,将所述对齐后的测量值作为支持向量回归机SVR的输入参数,其中,所述测量值包括所述仪表参数;

将所述质量指标作为所述SVR的输出参数,通过所述SVR对所述输入参数和所述输出参数进行训练,得到所述参数优化模型。

在其中一些实施例中,所述中央控制中心还用于:

基于所述参数优化模型,通过非线性优化函数,根据所述目标质量指标反推得到所述优化参数曲线。

第二方面,本申请实施例提供了一种生产工艺参数处理的方法,所述方法包括:

根据多个批次的生产工艺参数获取黄金曲线,计算所述黄金曲线与每个批次测量曲线之间的匹配路径;

根据所述匹配路径,通过对质量指标、所述测量曲线中的时间序列和仪表参数进行训练,得到参数优化模型;

根据目标质量指标,通过所述参数优化模型,得到所述目标质量指标对应的优化参数曲线。

在其中一些实施例中,所述根据所述匹配路径,通过对质量指标、所述测量曲线中的时间序列和仪表参数进行训练,得到参数优化模型包括:

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