[发明专利]测量微丸各组分层厚度的方法及系统在审

专利信息
申请号: 202010396521.9 申请日: 2020-05-12
公开(公告)号: CN111504977A 公开(公告)日: 2020-08-07
发明(设计)人: 程菊红;伍凤祥;贺令娟 申请(专利权)人: 湖南航天天麓新材料检测有限责任公司
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65;G01B11/06
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 代理人: 郭立中;王娟
地址: 410600 湖南省长沙市*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 测量 各组 分层 厚度 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种测量微丸各组分层厚度的方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、获取原料药的拉曼特征图谱和辅料的拉曼特征图谱;

S2、将所述原料药的拉曼特征图谱和辅料的拉曼特征图谱导入微丸切面拉曼面扫描数据中,进行组分分析、成像;

S3、标注经步骤S2处理后得到的微丸切面拉曼面扫描成像中各组分层厚度。

2.根据权利要求1所述的测量微丸各组分层厚度的方法,其特征在于,步骤S1之前,还包括:

1)取微丸原料药和辅料,分别压平制样;

2)确定激光拉曼扫描的测试条件、单点激光拉曼扫描参数条件,获得原料药的拉曼特征图谱和辅料的拉曼特征图谱;

3)设置拉曼显微镜的面扫描条件,获得切开后的微丸的切面拉曼面扫描数据;优选地,所述面扫描条件包括扫描区域覆盖范围、面扫描步径、面扫描激光波长、面扫描激光功率、曝光时间和曝光累计次数;优选地,面扫描区域覆盖整个微丸切面;优选地,所述微丸切面平整。

3.根据权利要求2所述的测量微丸各组分层厚度的方法,其特征在于,步骤2)中,所述测试条件包括激光波长和狭缝;优选地,所述激光波长为633nm,狭缝为65μm。

4.根据权利要求2所述的测量微丸各组分层厚度的方法,其特征在于,步骤2)中,所述单点激光拉曼扫描的参数包括激光功率、曝光时间和曝光累计次数,优选地,激光功率设定为额定功率的10%、曝光时间为10s,曝光累计次数为1次。

5.根据权利要求2所述的测量微丸各组分层厚度的方法,其特征在于,步骤3)中,所述面扫描激光功率为能够使各组分拉曼峰均有响应且不造成响应饱和样品烧坏的最大功率。

6.根据权利要求1所述的测量微丸各组分层厚度的方法,其特征在于,所述面扫描步径设置为0.5μm-5μm。

7.根据权利要求1~6之一所述的测量微丸各组分层厚度的方法,其特征在于,采用激光共聚焦显微拉曼光谱进行激光拉曼扫描。

8.一种测量微丸各组分层厚度的系统,其特征在于,包括:

数据采集模块,用于获取原料药的拉曼特征图谱和辅料的拉曼特征图谱;

导入模块,用于将所述原料药的拉曼特征图谱和辅料的拉曼特征图谱导入微丸切面拉曼面扫描数据中,进行组分分析、成像;

标注模块,用于标注经导入模块处理后得到的微丸切面拉曼面扫描成像中各组分层厚度。

9.根据权利要求8所述的系统,其特征在于,所述数据采集模块包括:

拉曼特征图谱获取模块,用于确定激光拉曼扫描的测试条件,优化单点激光拉曼扫描的参数,获得原料药、辅料的拉曼特征图谱;

微丸切面扫描数据获取模块,用于设置拉曼显微镜的面扫描选区范围,获得切开后的微丸的切面拉曼面扫描数据;优选地,所述面扫描条件包括扫描区域覆盖范围、面扫描步径、面扫描激光频率、面扫描激光功率、曝光时间和曝光累计次数;优选地,面扫描区域覆盖整个微丸切面;优选地,所述微丸切面平整;所述拉曼显微镜的扫描区域覆盖整个微丸切面。

10.根据权利要求9所述的系统,其特征在于,所述测试条件包括激光波长和狭缝;优选地,所述单点激光拉曼扫描的参数包括激光功率、曝光时间和曝光累计次数;优选地,所述面扫描激光功率为能够使各组分拉曼峰均有响应且不造成响应饱和样品烧坏的最大功率。

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