[发明专利]磁传感器装置

说明书

本发明提供一种磁传感器装置，具备磁栅尺和磁传感器，即使从外部施加磁场，也能够抑制检测精度的降低。在该磁传感器装置中，构成+a相磁阻图案(11)的磁阻图案(27a～27d、28a～28d)各自的导体的长度方向、构成‑a相磁阻图案(12)的磁阻图案(29a～29d、30a～30d)各自的导体的长度方向、构成+b相磁阻图案(13)的磁阻图案(31a～31d、32a～32d)各自的导体的长度方向以及构成‑b相磁阻图案(14)的磁阻图案(33a～33d、34a～34d)各自的导体的长度方向沿恒定方向各改变规定角度。

技术领域

本发明涉及一种具备磁栅尺和相对于磁栅尺相对移动的磁传感器的磁传感器装置。

背景技术

目前，已知具备圆环状的磁栅尺和用于检测磁栅尺的旋转移动的检测器的旋转编码器(例如，参照专利文献1)。在专利文献1所记载的旋转编码器中，磁栅尺具备配置于磁栅尺的径向外侧的圆环状的第一磁道和在径向内侧与第一磁道相邻的圆环状的第二磁道。在第一磁道及第二磁道中，N极和S极以相同的宽度沿着磁栅尺的周向交替配置。另外，在第一磁道和第二磁道中，N极及S极的位置在周向上偏移一个磁极。因此，在磁栅尺的规定位置上产生旋转磁场。

另外，在专利文献1所记载的旋转编码器中，检测器具备安装磁阻元件的磁传感器基板。磁阻元件具备互相之间具有90°相位差的A相磁阻图案及B相磁阻图案。A相磁阻图案具备以180°相位差进行磁栅尺的移动检测的+a相磁阻图案及-a相磁阻图案。B相磁阻图案具备以180°相位差进行磁栅尺的移动检测的+b相磁阻图案及-b相磁阻图案。+a相磁阻图案由以磁栅尺的径向为长度方向的直线状的多个导体构成。同样，-a相磁阻图案、+b相磁阻图案及-b相磁阻图案分别由以磁栅尺的径向为长度方向的直线状的多个导体构成。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2012-118000号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

通过本申请的发明人的研究已经明确，在专利文献1所记载的旋转编码器中，当从外部对旋转编码器施加磁场，且外部的磁场(外部磁场)与磁栅尺产生的磁场结合时，旋转编码器的检测精度降低。具体地说，通过本申请发明人的研究已经明确，在专利文献1所记载的旋转编码器中，+a相磁阻图案、-a相磁阻图案、+b相磁阻图案及-b相磁阻图案分别由以磁栅尺的径向为长度方向的直线状的多个导体构成，当对旋转编码器施加外部磁场时，外部磁场的影响沿相同的方向作用于多个导体中的每个导体，外部磁场的影响被放大，因此旋转编码器的检测精度降低。

因此，本发明的技术问题在于提供一种磁传感器装置，具备磁栅尺和磁传感器，即使从外部施加磁场，也能够抑制检测精度的降低。

解决技术问题所采用的技术方案