[发明专利]漏光亮度检测系统及检测方法有效

专利信息
申请号: 202010402408.7 申请日: 2020-05-13
公开(公告)号: CN111487795B 公开(公告)日: 2022-10-04
发明(设计)人: 白一晨 申请(专利权)人: TCL华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 唐秀萍
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 漏光 亮度 检测 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种漏光亮度检测系统,用以检测显示面板,所述显示面板具有一出光面,其特征在于,漏光亮度检测系统包括:

一灰阶测试卡,具有若干色区;

一亮度测量仪,用以获取灰阶测试卡每一色区的亮度;

一光学成像设备,用以获取所述灰阶测试卡中每一色区的图像和所述显示面板的图像;

一数据处理器,与所述亮度测量仪和所述光学成像设备数据连接,

所述数据处理器用以

将所述灰阶测试卡的每一色区的图像转换为灰阶图,并获取每一色区的灰阶值;

将所述显示面板的图像转换为灰阶图,并获取显示面板的每一处的灰阶值;

关联每一色区的亮度与每一色区的灰阶值,形成亮度与灰阶值的对应关系;以及

根据显示面板的每一处的灰阶值和亮度与灰阶值的对应关系,计算得到显示面板的每一处的亮度。

2.如权利要求1所述的漏光亮度检测系统,其特征在于,

所述光学成像设备包括:一照相机以及一光学显微镜,所述光学显微镜设于所述照相机朝向检测物品的一侧。

3.如权利要求1所述的漏光亮度检测系统,其特征在于,还包括:

一背光源,校准时,所述灰阶测试卡贴附于所述背光源上,检测时,所述显示面板贴附于所述背光源上。

4.如权利要求1所述的漏光亮度检测系统,其特征在于,还包括:

支架,用于支撑所述光学成像设备;和/或

载台,用于装载所述显示面板。

5.一种如权利要求1所述的漏光亮度检测系统的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

获取所述灰阶测试卡中每一色区的图像;

将所述灰阶测试卡的每一色区的图像转换为灰阶图,并获取每一色区的校准灰阶值;

获取灰阶测试卡每一色区的校准亮度值;

关联每一色区的校准灰阶值和校准亮度值,形成灰阶值与亮度值的对应关系;

获取显示面板的图像;

将所述显示面板的图像转换为灰阶图,并获取显示面板的每一处的实际灰阶值;

根据显示面板的每一处的实际灰阶值和亮度值与灰阶值的对应关系,计算得到显示面板的每一处的实际亮度值。

6.如权利要求5所述的漏光亮度检测系统的检测方法,其特征在于,

获取所述灰阶测试卡中每一色区的图像步骤中包括:

校准光学成像设备,调整所述光学成像设备的系统参数;

通过所述光学成像设备拍摄所述灰阶测试卡每一色区,获取每一色区的图像;

将所有图像传送给数据处理器;

其中,所述光学成像设备的系统参数包括曝光时间、光圈数、ISO值、放大倍率。

7.如权利要求5所述的漏光亮度检测系统的检测方法,其特征在于,

获取灰阶测试卡每一色区的校准亮度值步骤中包括:通过亮度测量仪测量每一色区的校准亮度值,并将校准亮度值输入数据处理器。

8.如权利要求5所述的漏光亮度检测系统的检测方法,其特征在于,

关联每一色区的校准灰阶值和校准亮度值,形成灰阶值与亮度值的对应关系步骤中包括:数据处理器根据获取的每一色区的校准灰阶值和每一色区的校准亮度值绘制出灰阶值与亮度值的关系曲线图;通过所述关系曲线图拟合出亮度计算公式。

9.如权利要求5所述的漏光亮度检测系统的检测方法,其特征在于,

获取显示面板的图像步骤中包括:

在相同的光学成像设备的系统参数下,将所述灰阶测试卡替换为显示面板进行拍摄,获取所述显示面板的图像,并传送给数据处理器。

10.如权利要求5所述的漏光亮度检测系统的检测方法,其特征在于,

根据显示面板的每一处的实际灰阶值和亮度值与灰阶值的对应关系,计算得到显示面板的每一处的实际亮度步骤中包括:所述数据处理器将获取到的灰阶值代入所述亮度计算公式中进行计算,得到所述实际亮度值。

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