[发明专利]漏光亮度检测系统及检测方法

说明书

本发明提供了一种漏光亮度检测系统及检测方法。所述漏光亮度检测系统包括一灰阶测试卡、一亮度测量仪、一光学成像设备以及一数据处理器。所述检测方法通过漏光亮度检测系统获取灰阶值与亮度值之间的对应关系，根据对应关系拟合亮度计算公式，通过亮度计算公式计算得到显示面板漏光处的实际亮度值。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是一种显漏光亮度检测系统及检测方法。

背景技术

TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display,薄膜晶体管-液晶显示器)通过电压控制液晶分子的偏转状态来调控背光光源的透光量，从而显示具有特定颜色和亮度分布的画面。对比度是衡量TFT-LCD显示质量的重要参数。对比度通常定义为亮态画面(红、绿、蓝子像素均为最高灰阶)与暗态画面(红、绿、蓝子像素均为零灰阶)的亮度比值。对比度越高，黑色画面越纯粹，给观看者的感受越好。

限制TFT-LCD对比度提升的主要因素是暗态亮度(或者称为暗态漏光)。可能导致暗态漏光的因素包括液晶的配向机制和配向效果、各个膜层和金属微结构的光散射和消偏作用、黑色矩阵BM的遮光系数和对位准确程度等。

TFT-LCD像素微区暗态亮度的测量一直是业界的难题，而目前常用的亮度测量仪器如Konica公司的CS2000和CA310，测量面积大，只能定量的测量大视野亮度，无法对TFT-LCD子像素内微区的暗态亮度进行准确测量。利用光学显微成像系统只能定性地拍摄暗态漏光照片，但无法得出图片中的亮度信息。

发明内容

本发明的目的是提供一种漏光亮度检测系统及检测方法，以解决现有技术中亮度测量仪测和光学显微成像无法测量TFT-LCD子像素内微区的暗态漏光的亮度值等问题。

为实现上述目的，本发明提供一种漏光亮度检测系统，其用以检测显示面板，漏光亮度检测系统包括一灰阶测试卡、一亮度测量仪、一光学成像设备以及一数据处理器。

所述灰阶测试卡具有若干色区。所述亮度测量仪用以获取灰阶测试卡每一色区的亮度。所述光学成像设备用以获取所述灰阶测试卡中每一色区的图像和所述显示面板的图像。所述数据处理器与所述亮度测量仪和所述光学成像设备数据连接。所述数据处理器用以将所述灰阶测试卡的每一色区的图像转换为灰阶图，并获取每一色区的灰阶值。将所述显示面板的图像转换为灰阶图，并获取显示面板的每一处的灰阶值。关联每一色区的亮度与每一色区的灰阶值，形成亮度与灰阶值的对应关系；以及根据显示面板的每一处的灰阶值和亮度与灰阶值的对应关系，计算得到显示面板的每一处的亮度。

进一步地，所述光学成像设备包括一照相机以及一光学显微镜，所述光学显微镜设于所述照相机朝向检测物品的一侧。

进一步地，所述漏光亮度检测系统还包括一背光源，校准时，所述灰阶测试卡贴附于所述背光源上，检测时，所述显示面板贴附于所述背光源上。

进一步地，所述漏光亮度检测系统还包括支架和/或载台。所述支架用于支撑所述光学成像设备。所述载台用于装载所述显示面板。

本发明中还提供一种如上所述的漏光亮度检测系统的检测方法，其包括以下步骤：

获取所述灰阶测试卡中每一色区的图像。将所述灰阶测试卡的每一色区的图像转换为灰阶图，并获取每一色区的校准灰阶值。获取灰阶测试卡每一色区的校准亮度值。关联每一色区的校准灰阶值和校准亮度值，形成灰阶值与亮度值的对应关系。获取显示面板的图像。将所述显示面板的图像转换为灰阶图，并获取显示面板的每一处的实际灰阶值。根据显示面板的每一处的实际灰阶值和亮度值与灰阶值的对应关系，计算得到显示面板的每一处的实际亮度值。