[发明专利]调制器校准单元、包括其的校准系统及调制器的校准方法

说明书

公开一种调制器校准单元、包括其的校准系统及调制器的校准方法。本发明的一实施例的调制器校准单元包括：传感器部，测量所述传感器部与调制器的隔开距离；以及发信模组，将在所述传感器部中检测到的信息向与所述调制器连接的间隙校正单元传递。

技术领域

本发明涉及一种调制器校准单元、包括其的校准系统及调制器的校准方法。

背景技术

随着信息化社会的发展，对显示装置的要求也在以多种形态逐渐增多，顺应其，最近液晶显示装置(Liquid Crystal Display；LCD)、等离子显示器(Plasma Display Panel；PDP)、电致发光显示器(Electro Luminescent Display；ELD)、真空荧光显示器(VacuumFluorescent Display；VFD)等各种平板显示装置得到研究和开发。

其中，通过正在急速发展的半导体技术而性能进一步提高的液晶显示装置目前因画质优异、小型化、轻量化及低功率化等优势，替代现有的阴极射线管(Cathode Ray Tube；CRT)并大量使用。

作为平板显示装置之一的液晶显示装置，不仅是可携带的手机、个人数字助理(Personal Digital Assistant；PDA)及便携式多媒体播放器(Portable MultimediaPlayer；PMP)等之类的小型产品，以至到接收广播信号进行的显示的TV及计算机的显示器等中大型产品，以多种多样得到使用。

液晶显示装置是如下的显示装置：通过向以矩阵形式排列的液晶单元单独供应基于图像信息的数据信号，调节液晶单元的光透过率，从而使得能够显示所希望的图像。

这种液晶显示装置具备液晶层，该液晶层根据向形成多个像素图案的薄膜晶体管(Thin Film Transistor，以下称为TFT)基板与形成滤色层的滤色基板之间施加电信号来决定有无光的透过。

此类液晶显示装置会执行对在制造工艺中在TFT基板形成的栅极线或数据线的断线或断开、其它TFT基板上的电路不良等缺陷进行测试的工艺。

另外，在基板上形成的电极的缺陷通过阵列测试装置(array tester)来检查。而且，阵列测试装置包括固定体单元和结合调制器单元的自由体单元。调制器单元具备：用于在与基板电极之间形成电场的调制器电极；以及物性根据所述电场的大小而变化的物性变化部。

另一方面，这种阵列测试器在执行测试之前，执行将从基板到调制器的距离保持一定的设定。

在现有技术中，使用了通过这种设定将调制器接触于基板而将从基板到调制器的平坦度保持一定的调制器校准方法。

但是，现有技术的调制器校准方法由于调制器物理接触于基板，发生调制器或基板的破损，存在这种破损引起产生异物的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种当进行将从基板到调制器的距离保持一定的设定时防止调制器或基板的破损并最小化这种破损引起产生异物的调制器校准单元及利用该调制器校准单元的校准方法。

本发明的另一目的在于提供一种校准系统，该校准系统包括当进行将从基板到调制器的距离保持一定的设定时防止调制器或基板的破损并最小化这种破损引起产生异物的调制器校准单元。

本发明的一实施例的调制器校准单元包括：传感器部，测量所述传感器与调制器的隔开距离；以及发信模组，将在所述传感器部中检测到的信息向与所述调制器连接的间隙校正单元传递。

另外，在调制器校准单元中，可以是，所述调制器校准单元包括多个所述传感器部，多个所述传感器部与所述调制器相对，并位于与所述调制器的配置区域对应的区域内。

另外，在调制器校准单元中，可以是，多个所述传感器部配置成三角形状。