[发明专利]一种涂层表面缺陷的检测方法

权利要求书

1.一种涂层表面缺陷的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1：利用光学成像设备采集原始涂层表面缺陷图像；

步骤2：对采集到的原始涂层表面缺陷图像进行平滑滤波处理；

步骤3：对平滑滤波处理后的原始涂层表面缺陷图像进行图像色彩空间转换，得到灰度图A；

步骤4：对色彩空间转换后的灰度图A进行涂层表面缺陷特征提取；

步骤4.1：选择灰度图A中一个点，计算该点的横向偏导近似值G_X和纵向灰度偏导近似值G_Y；

G_X＝[f(x+1,y―1)+2*f(x+1,y)+f(x+1,y+1)]―[f(x―1,y―1)+2*f(x―1,y)+f(x―1,y+1)]

G_Y＝[f(x―1,y―1)+2*f(x,y―1)+f(x+1,y―1)]―[f(x―1,y+1)+2*f(x,y+1)+f(x+1，y+1)]

其中，f(x，y)为灰度图A中点(x，y)处的灰度值，*为卷积符号；

步骤4.2：计算该点的梯度估计值G；

步骤4.3：判断该点的梯度估计值G是否大于阈值G_max；若该点的梯度估计值G大于阈值G_max，则判定该点为边界点；

步骤4.4：判断是否完成对灰度图A中所有点的计算；若未完成，则返回步骤4.1；若已完成，则提取所有边界点构成灰度图P作为涂层表面缺陷特征；

步骤5：将灰度图P与涂层表面缺陷参考图之间进行相似性检测；

步骤5.1：计算灰度图P的均值

其中，灰度图P的大小为M*N；p(i，j)为灰度图P中的位于(i,j)位置的像素值；

步骤5.2：计算灰度图P的方差C；

步骤5.3：将灰度图P的方差C与涂层表面缺陷参考图的方差逐一计算差值，取差值的绝对值最小的涂层表面缺陷参考图，将该涂层表面缺陷参考图中涂层表面缺陷类型作为原始涂层表面缺陷图像的识别结果。

2.根据权利要求1所述的一种涂层表面缺陷的检测方法，其特征在于：所述的步骤2中采用高斯滤波器对采集到的原始涂层表面缺陷图像进行平滑滤波处理，高斯滤波器的模板大小为(2k+1)*(2k+1)，模板中各元素的取值计算公式为：

其中，(i，j)为高斯滤波器的模板中元素的位置；σ为标准差。

3.根据权利要求1或2所述的一种涂层表面缺陷的检测方法，其特征在于：所述的步骤3中采用加权平均法对平滑滤波处理后的原始涂层表面缺陷图像进行图像色彩空间转换，计算公式为：

其中，W_R、W_G、W_B分别为R，G，B颜色对应的权重系数。