[发明专利]一种涂层表面缺陷的检测方法

说明书

本发明属于无损检测技术领域，具体涉及一种涂层表面缺陷的检测方法。本发明首先利用光学成像无损检测设备采集含有涂层表面缺陷的图像；将采集到的涂层表面缺陷图像进行平滑滤波处理；将平滑滤波后的涂层表面缺陷图像进行色彩空间转换；对涂层表面缺陷特征进行提取；最后利用图像相似性检测算法将色彩空间转换后的涂层表面缺陷图像与涂层表面缺陷参考图之间进行相似性计算，通过比较相似性大小，确认涂层缺陷类型。本发明解决了现有技术中涂层表面缺陷的检测方法中检测的缺陷类型单一以及无法对涂层缺陷类型进行识别的技术问题。本发明可实现涂层表面缺陷检测，本发明具有检测自动化和涂层表面缺陷类型识别的功能，并且检测效率快，识别精度高。

技术领域

本发明属于无损检测技术领域，具体涉及一种涂层表面缺陷的检测方法。

背景技术

无损检测是指在不损害或不影响被检测对象使用性能,不伤害被检测对象内部组织或外部表面形貌状态的前提下，利用材料内部结构异常或缺陷存在引起的热、声、光、电、磁等反应的变化，以物理或化学方法为手段，借助现代化的技术和设备器材，对试件内部及表面的结构、性质、状态及缺陷的类型、性质、数量、形状、位置、尺寸、分布及其变化进行检查和测试的方法。光学成像技术是通过捕获目标反射的光纤信息，从而在传感器中形成目标图像信息，可快速获取目标图像信息，并传输至图像处理设备，可用于常规的物体表面缺陷检测。

目前涂层缺陷检测技术大多利用超声波、热像/红外、涡流等常见无损检测技术，只实现了涂层缺陷的检测，并未对涂层缺陷种类进行识别，如公开号为CN109427049A，名称为“一种涂层缺陷的检测方法”的发明专利，该方法仅能检测涂层缺陷大小，并且实用性不强，如涂层龟裂，流挂等不规则形状，利用该方法进行涂层缺陷大小的检测则显得勉强，并且只实现了涂层缺陷的检测，并未对涂层缺陷进行识别。

发明内容

本发明的目的在于提供解决现有技术中涂层表面缺陷的检测方法中检测的缺陷类型单一以及无法对涂层缺陷类型进行识别的技术问题的一种涂层表面缺陷的检测方法。

本发明的目的通过如下技术方案来实现：包括以下步骤：

步骤1：利用光学成像设备采集原始涂层表面缺陷图像；

步骤2：对采集到的原始涂层表面缺陷图像进行平滑滤波处理；

步骤3：对平滑滤波处理后的原始涂层表面缺陷图像进行图像色彩空间转换，得到灰度图A；

步骤4：对色彩空间转换后的灰度图A进行涂层表面缺陷特征提取；

步骤4.1：选择灰度图A中一个点，计算该点的横向偏导近似值G_X和纵向灰度偏导近似值G_Y；

G_X＝[f(x+1,y―1)+2*f(x+1,y)+f(x+1,y+1)]―[f(x―1，y―1)+2*f(x―1，y)+f(x―1,y+1)]

G_Y＝[f(x―1，y―1)+2*f(x,y―1)+f(x+1,y―1)]―[f(x―1,y+1)+2*f(x,y+1)+f(x+1,y+1)]

其中，f(x,y)为灰度图A中点(x，y)处的灰度值，*为卷积符号；

步骤4.2：计算该点的梯度估计值G；

步骤4.3：判断该点的梯度估计值G是否大于阈值G_max；若该点的梯度估计值G大于阈值G_max，则判定该点为边界点；

步骤4.4：判断是否完成对灰度图A中所有点的计算；若未完成，则返回步骤4.1；若已完成，则提取所有边界点构成灰度图P作为涂层表面缺陷特征；

步骤5：将灰度图P与涂层表面缺陷参考图之间进行相似性检测；