[发明专利]一种半导体加工设备上的排污斗结构在审
申请号: | 202010410178.9 | 申请日: | 2020-05-15 |
公开(公告)号: | CN111569487A | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
发明(设计)人: | 徐俊 | 申请(专利权)人: | 杭州易正科技有限公司 |
主分类号: | B01D29/03 | 分类号: | B01D29/03;B01D35/16;F16L55/027;F16L55/24 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人: | 曹立成 |
地址: | 310000 浙江省杭州市西*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 加工 设备 排污 结构 | ||
1.一种半导体加工设备上的排污斗结构,包括安装固定在设备上的排污管(1),排污管(1)的上侧设有圆锥形的集水斗(2),其特征在于:排污管(1)内插接有芯轴(3)和螺旋形的缓冲带(5),缓冲带(5)的内圈固定在芯轴(3)上,缓冲带(5)的外壁抵靠在排污管(1)的内壁上;所述芯轴(3)的上端固定在集水斗(2)的底端,芯轴(3)四周的集水斗(2)上成型有若干道排水槽(21),所述集水斗(2)和排污管(1)之间设有连接套(4),连接套(4)的上端固定在集水斗(2)的外壁上,连接套(4)下端的内壁上成型有环形的插槽(41),排污管(1)的上端面上成型有环形的插管(11),插管(11)插接在连接套(4)的插槽(41)内,连接套(4)抵靠在排污管(1)的上端面上;所述缓冲带(5)的上端面上成型有若干道缓冲凹槽。
2.根据权利要求1所述的一种半导体加工设备上的排污斗结构,其特征在于:所述的排水槽(21)以集水斗(2)的中心呈发射状分布在集水斗(2)上,排水槽(21)分布在连接套(4)的内侧。
3.根据权利要求2所述的一种半导体加工设备上的排污斗结构,其特征在于:所述集水斗(2)的上沿成型有环形的挡圈(22)。
4.根据权利要求1所述的一种半导体加工设备上的排污斗结构,其特征在于:所述集水斗(2)的内壁上焊接固定有“冂”字形的拉手(6)。
5.根据权利要求1所述的一种半导体加工设备上的排污斗结构,其特征在于:所述芯轴(3)采用柔性轴,芯轴(3)的顶端面上成型有圆锥形的凹窝,凹窝的内壁抵靠在集水斗(2)的外壁上。
6.根据权利要求1所述的一种半导体加工设备上的排污斗结构,其特征在于:所述排污管(1)内壁的直径等于连接套(4)内壁的直径,排污管(1)、连接套(4)和集水斗(2)的中心轴线在同一直线上。
7.根据权利要求1所述的一种半导体加工设备上的排污斗结构,其特征在于:所述缓冲带(5)上端面上焊接固定与若干道挡水条。
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