[发明专利]一种半导体加工设备上的排污斗结构在审

专利信息
申请号: 202010410178.9 申请日: 2020-05-15
公开(公告)号: CN111569487A 公开(公告)日: 2020-08-25
发明(设计)人: 徐俊 申请(专利权)人: 杭州易正科技有限公司
主分类号: B01D29/03 分类号: B01D29/03;B01D35/16;F16L55/027;F16L55/24
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 曹立成
地址: 310000 浙江省杭州市西*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 加工 设备 排污 结构
【权利要求书】:

1.一种半导体加工设备上的排污斗结构,包括安装固定在设备上的排污管(1),排污管(1)的上侧设有圆锥形的集水斗(2),其特征在于:排污管(1)内插接有芯轴(3)和螺旋形的缓冲带(5),缓冲带(5)的内圈固定在芯轴(3)上,缓冲带(5)的外壁抵靠在排污管(1)的内壁上;所述芯轴(3)的上端固定在集水斗(2)的底端,芯轴(3)四周的集水斗(2)上成型有若干道排水槽(21),所述集水斗(2)和排污管(1)之间设有连接套(4),连接套(4)的上端固定在集水斗(2)的外壁上,连接套(4)下端的内壁上成型有环形的插槽(41),排污管(1)的上端面上成型有环形的插管(11),插管(11)插接在连接套(4)的插槽(41)内,连接套(4)抵靠在排污管(1)的上端面上;所述缓冲带(5)的上端面上成型有若干道缓冲凹槽。

2.根据权利要求1所述的一种半导体加工设备上的排污斗结构,其特征在于:所述的排水槽(21)以集水斗(2)的中心呈发射状分布在集水斗(2)上,排水槽(21)分布在连接套(4)的内侧。

3.根据权利要求2所述的一种半导体加工设备上的排污斗结构,其特征在于:所述集水斗(2)的上沿成型有环形的挡圈(22)。

4.根据权利要求1所述的一种半导体加工设备上的排污斗结构,其特征在于:所述集水斗(2)的内壁上焊接固定有“冂”字形的拉手(6)。

5.根据权利要求1所述的一种半导体加工设备上的排污斗结构,其特征在于:所述芯轴(3)采用柔性轴,芯轴(3)的顶端面上成型有圆锥形的凹窝,凹窝的内壁抵靠在集水斗(2)的外壁上。

6.根据权利要求1所述的一种半导体加工设备上的排污斗结构,其特征在于:所述排污管(1)内壁的直径等于连接套(4)内壁的直径,排污管(1)、连接套(4)和集水斗(2)的中心轴线在同一直线上。

7.根据权利要求1所述的一种半导体加工设备上的排污斗结构,其特征在于:所述缓冲带(5)上端面上焊接固定与若干道挡水条。

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