[发明专利]一种产品外观检测方法及装置

权利要求书

1.一种产品外观检测方法，其特征在于，

通过至少一台光场相机拍摄获取被测产品外观图像；

设置至少一台光源以合适的角度照射所述被测产品外观待测区域，使得被测产品外观待测区域被所述光场相机良好成像；

对被测产品外观图像进行光场多视角渲染，根据光场多视角图像表面纹理信息，判断、获得被测产品外观表面缺陷信息。

2.根据权利要求1所述的产品外观检测方法，其特征在于，在所述获得被测产品外观表面缺陷信息后，结合被测产品外观表面不良纹理的位置，并依据预设判定标准对所述产品外观进行判定。

3.根据权利要求1所述的产品外观检测方法，其特征在于，所述通过光场相机拍摄获取被测产品外观图像的步骤包括，

采用光场相机或显微光场相机搭配合适光圈和焦距的镜头后拍摄散焦柔光纯色校准板，进行光场白图像校准和微透镜中心校准；

采用光场相机拍摄多张空间位置不同的尺度校准板进行光场相机尺度校准。

4.根据权利要求1所述的产品外观检测方法，其特征在于，所述的光源以合适的角度照射所述被测产品外观待测区域步骤，是将被测产品待测区域均匀照射，且避免反光，以至于所述光场相机可以对被测产品外观进行成像。

5.根据权利要求1所述的产品外观检测方法，其特征在于，所述的根据光场多视角图像表面纹理信息，判断、获得被测产品外观表面缺陷信息，是根据光场多视角图像中存在缺陷的形状信息，通过根据缺陷常见的形状信息进行分类识别，进一步定位该缺陷在光场多视角图像中的位置。

6.根据权利要求3所述的产品外观检测方法，其特征在于，所述通过光场相机拍摄获取被测产品外观图像的步骤具体包括，

调节镜头至适合焦距和光圈，使用镜头光圈匹配后的光场相机拍摄多张散焦柔光纯色校准板，获取光场白图像；

根据光场相机白图像计算得到去渐晕矩阵和光场相机微透镜亚像素级中心坐标矩阵；

采用光场相机拍摄多张已知空间三维位置的圆点校准板，并建立从三维坐标到视差之间的光场数学模型，完成光场相机尺度校准。

7.一种产品外观检测装置，其特征在于，包括

至少一台光场相机，用于拍摄被测产品外观图像；

至少一台光源，用于被测产品外观待测区域；

缺陷检测器，包括存储器；以及

耦合到所述存储器的处理器，该处理器被配置为执行存储在所述存储器中的指令，所述处理器执行如权利要求1-6中任一项所述的方法。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令在被处理器运行时使得所述处理器执行如权利要求1-6中任一项所述的方法。