[发明专利]运载体姿态测量系统、方法以及存储介质有效

专利信息
申请号: 202010414144.7 申请日: 2020-05-15
公开(公告)号: CN111623775B 公开(公告)日: 2022-10-04
发明(设计)人: 杨君;习先强 申请(专利权)人: 天津时空经纬测控技术有限公司
主分类号: G01C21/18 分类号: G01C21/18;G01C1/00
代理公司: 北京万思博知识产权代理有限公司 11694 代理人: 刘冀
地址: 300380 天津市西青区中*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 运载 姿态 测量 系统 方法 以及 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种运载体姿态测量系统,用于测量所述运载体的姿态,其特征在于,包括:第一光学准直装置(10)、第一姿态测量装置(20)、处理器装置(30)以及第一驱动装置(40),其中

所述第一光学准直装置(10),用于测量与第一测量面(S1)之间的第一角度偏差信息,其中所述第一角度偏差信息用于指示所述第一光学准直装置(10)的轴线与所述第一测量面(S1)法线之间的角度偏差,并且其中所述第一测量面(S1)固定设置于所述运载体上,其中所述第一光学准直装置(10)包括:光源(110);图像采集单元(120);设置于所述光源前的第一分划板(130);设置于所述图像采集单元(120)前的第二分划板(140);以及光学系统,其中所述光学系统用于将由所述光源(110)发射并且穿过所述第一分划板(130)的光源光投射到所述测量面(S1)上,以及将从所述测量面(S1)反射回的所述光源光经由所述第二分划板(140)投射到所述图像采集单元(120);

所述第一姿态测量装置(20),与所述第一光学准直装置(10)连接,用于测量与所述第一光学准直装置(10)的姿态相关的第一测量信息,其中所述第一姿态测量装置(20)包括多个陀螺仪(210a、210b、210c)以及彼此垂直设置的多个加速度计(220a、220b、220c);

所述驱动装置(40)与所述第一光学准直装置(10)和所述第一姿态测量装置(20)连接,用于驱动所述第一光学准直装置(10)和所述第一姿态测量装置(20)相对于所述运载体进行姿态变换;以及

所述处理器装置(30),与所述第一光学准直装置(10)以及所述第一姿态测量装置(20)通信连接,并且配置用于根据从所述第一光学准直装置(10)接收的所述第一角度偏差信息以及从所述第一姿态测量装置(20)接收的所述第一测量信息,确定所述第一测量面(S1)的第一姿态信息,并且

处理器装置(30)还配置用于:接收所述图像采集单元(120)采集的检测图像作为所述第一角度偏差信息,其中所述检测图像包含所述第一分划板(130)的第一刻线的第一影像和所述第二分划板(140)的第二刻线的第二影像;以及接收所述陀螺仪(210a、210b、210c)和所述加速度计(220a、220b、220c)测量的信息作为所述第一测量信息,并且其中

根据所述第一角度偏差信息以及所述第一测量信息,确定所述第一姿态信息的操作,包括:

根据所述第一影像相对于所述第二影像的相对位移(Δx,Δy),通过以下公式确定所述第一测量面(S1)相对于所述第一光学准直装置(10)的方位角度偏差ki和俯仰角度偏差φi

ki=Δx/Sx

φi=Δy/Sy

其中Sx为水平方向的比例因子,Sy为垂直方向的比例因子;

利用捷联惯导算法,根据所述第一测量信息,确定所述第一光学准直装置(10)的方位角α1以及俯仰角β1;以及

将所述第一测量面(S1)相对于所述第一光学准直装置(10)的方位角度偏差ki与所述第一光学准直装置(10)的方位角α1之和作为所述第一测量面(S1)的方位角,并且将所述第一测量面(S1)相对于所述第一光学准直装置(10)的俯仰角度偏差φi与所述第一光学准直装置(10)的俯仰角β1之和作为所述第一测量面(S1)的俯仰角,并且其中

所述处理器装置(30)还配置用于:根据所述第一姿态信息,确定所述运载体的第三姿态信息;以及根据所述第三姿态信息,确定所述运载体的导航信息。

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