[发明专利]一种基于XPS一步法测量烟丝加香均匀性的方法

权利要求书

1.一种基于XPS一步法测量烟丝加香均匀性的方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤(1)、加香烟丝样品的XPS分析：

取加香后的加香烟丝进行XPS全谱扫描、C(1s)和O(1s)谱扫描以及金属谱扫描；

步骤(2)、数据处理：

根据步骤(1)所得的能谱数据，分别计算[C]/[O]和[M₁]/[M₂]金属含量比，并对C(1s)根据其化学态对应结合能不同，进行分峰拟合，计算出[C-H]、[C-O]和[C＝O]每个化学态的相对含量；

其中，M₁和M₂分别为加香烟丝中含量最大的金属和含量次大的金属；

步骤(3)、数据计算：

CU均匀性系数计算公式：

x_i为某一成分第i次分析时的相对含量，n为每个样品的总分析次数；

分别将加香后的加香烟丝的[C]/[O]、[M₁]/[M₂]、[C-H]、[C-O]和[C＝O]代入CU公式，计算得到CU_[C]/[O]、CU_[C-H]、CU_[C-O]、CU_C＝O和CU_[M1]/[M2]；之后再对烟丝加香均匀性系数CU_总进行计算：

CU_总即为烟丝加香均匀性系数；

步骤(4)，加香均匀性判定：当CU_总大于250％，则判定加香均匀，否则判定为加香不均匀。

2.根据权利要求1所述的基于XPS一步法测量烟丝加香均匀性的方法，其特征在于，步骤(1)中，XPS分析条件为：实验时仪器采用射线激发源为单色化的Al靶，其能量为1486.6eV的αAl K X-ray作为辐射源，本底真空保持10^-6Pa数量级，分别记录全谱、C(1s)、O(1s)和金属能级谱；XPS全谱扫描步长为0.8eV，芯能级谱、价带谱的扫描步长为0.125eV。

3.根据权利要求1所述的基于XPS一步法测量烟丝加香均匀性的方法，其特征在于，每个样品总分析次数n不少于10次。

4.根据权利要求1所述的基于XPS一步法测量烟丝加香均匀性的方法，其特征在于，所选金属谱为样品烟丝中含量从大到小排列，含量排在第一和第二的这2个金属能谱，即在全谱中出峰强度从大到小排列，排在第一和第二的这两个金属峰。