[发明专利]一种宽频天线测量系统及测试方法

权利要求书

1.一种宽频天线测量系统，其特征在于，包括相隔设置的多探头检测点和单探头检测点、在多探头检测点和单探头检测点之间移动且至少可旋转一周的承载台(1)、环绕多探头检测点设置的多探头阵列检测装置(3)、以及位于多探头阵列检测装置(3)一侧并围绕单探头检测点设置的单探头检测装置(4)，所述多探头阵列检测装置(3)包括一组或多组呈环形阵列分布的第一探头(31)，所述单探头检测装置(4)包括围绕单探头检测点作圆弧形运动的第二探头(41)，所述第一探头(31)用于检测第一频段范围内的待测物的辐射性能，所述第二探头(41)用于检测第一频段范围外的待测物的辐射性能。

2.根据权利要求1所述的宽频天线测量系统，其特征在于，所述多探头阵列检测装置(3)还包括用于固定所述第一探头(31)的安装环(32)、以及用于固定所述安装环(32)的第一支撑架(33)，所述安装环(32)围绕多探头检测点设置，所述第一支撑架(33)设置于安装环(32)远离多探头探测点的一侧。

3.根据权利要求1所述的宽频天线测量系统，其特征在于，所述单探头检测装置(4)还包括设置于安装环(32)一侧的弧形滑轨(42)、用于支撑固定弧形滑轨(42)的第二支撑架(43)、以及用于驱动所述第二探头(41)沿弧形滑轨(42)移动的驱动机构(44)，所述弧形滑轨(42)呈圆弧状且围绕单探头检测点设置，所述第二支撑架(43)设置于弧形滑轨(42)远离单探头检测点的一侧。

4.根据权利要求1~3任意一项所述的宽频天线测量系统，其特征在于，还包括用于驱动承载台(1)移动和旋转的驱动装置(2)，所述驱动装置(2)包括用于控制承载台(1)转动至少一周的旋转轴、用于控制承载台(1)移动以将待测物移至多探头检测点或单探头检测点的多轴机构、以及用于控制承载台(1)在多探头检测点和单探头检测点之间滑移的平移轴。

5.根据权利要求1或2所述的宽频天线测量系统，其特征在于，所述多探头阵列检测装置(3)的各组探头用于检测不同频段的待测物的辐射性能，各组探头的检测频段构成第一频段，各组探头阵列上的第一探头(31)规律布置于安装环(32)上。

6.根据权利要求2所述的宽频天线测量系统，其特征在于，所述安装环(32)上铺设有U型吸波棉(341)，所述第一探头(31)穿设于U型吸波棉(341)并朝向多探头检测点。

7.根据权利要求3所述的宽频天线测量系统，其特征在于，所述弧形滑轨(42) 周围铺设有角锥吸波棉(342)，所述第二探头(41)在弧形滑轨(42)上滑动并始终朝向单探头检测点。

8.根据权利要求3所述的宽频天线测量系统，其特征在于，所述第二探头(41)可拆卸安装于弧形滑轨(42)上。

9.一种基于权利要求1~8任意一项所述宽频天线测量系统的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1.根据待测物频段选择对应频段的检测探头，若待测物的频段处于第一探头(31)频段范围内转至S21；若否，则拆卸原有的第二探头(41)并将对应频段的第二探头(41)并安装至弧形滑轨(42)上，转至S31；

S21.承载台(1)将待测物移动至多探头检测点；

S22.多探头阵列检测装置(3)上的第一探头(31)依次扫描待测物，获取待测物一个面或半个面上的辐射性能检测数据；

S23.旋转承载台(1)，重复S22；直至获取待测物球面辐射性能检测数据；转至S4；

S31.承载台(1)朝向单探头检测点移动，并调整待测物位置，使其处于单探头检测点；

S32.第二探头(41)扫描待测物，获取待测物单点辐射性能检测数据；第二探头(41)在弧形滑轨(42)0°~180°范围内按照固定角度间隔依次滑动，从而获取待测物半个面上的辐射性能检测数据；

S33.旋转承载台(1)，重复步骤S32；直至获取待测物球面辐射性能检测数据；转至S4；

S4.处理所得球面辐射性能检测数据，输出待测物性能指标数据。

10.根据权利要求9所述的宽频天线测量系统的测试方法，其特征在于，所述S22包括以下步骤：

S221. 根据待测物频段选择对应频段的探头组，开启测量范围在待测物频段内的第一探头(31)，关闭测量范围在待测物频段外的第一探头(31)；

S222. 测量范围在待测物频段内的第一探头(31)依次扫描待测物，获取待测物一个面或半个面上的辐射性能检测数据。