[发明专利]一种宽频天线测量系统及测试方法

说明书

本发明公开了一种宽频天线测量系统及测试方法，涉及天线测量领域，其技术方案要点是包括间隔设置的多探头检测点和单探头检测点、在多探头检测点和单探头检测点之间移动且至少可旋转一周的承载台、环绕多探头检测点设置的多探头阵列检测装置、以及位于多探头阵列检测装置一侧并围绕单探头检测点设置的单探头检测装置，多探头阵列检测装置包括一组或多组呈环形阵列分布的第一探头，单探头检测装置包括围绕单探头检测点作圆弧形运动的第二探头，第一探头用于检测第一频段范围内的待测物的辐射性能，第二探头用于检测第一频段范围外的待测物的辐射性能，其技术效果是具有测量效率高的优点。

技术领域

本发明涉及一种宽频天线测量系统及测试方法，更具体地说，它涉及一种非对称探头天线测量系统及测试方法。

背景技术

在天线测量系统中需要测定电磁性能的被测物通常会具有从米波级频带到毫米波级频带不同频段的波长，而一种探头只能覆盖有限的一段，为了实现米波级频带到毫米波级频带的频率覆盖一般需要几十种探头，在单一的多探头阵列中是无法实现的；要实现从米波级频带到毫米波级频带的测量通常采用多探头环及摆臂组合的测试方案。

现有技术中，通常采用摆臂方案对天线的辐射性能进行检测，其包括可旋转的承载台1、位于所述承载台1一侧的多探头阵列检测装置3、以及位于多探头阵列检测装置3相对的一侧的单探头检测装置4，多探头阵列检测装置3包括竖向设置的安装半环和多个位于安装半环上用于实现米波级频带与毫米波级之间频带检测的第一探头，单探头检测装置4包括在竖直面内转动的摆臂、设置于摆臂上的用于检测米波级到毫米波级频带之外的频带的第二探头。

在该组合测试方案中，在进行米波级频带与毫米波级之间频带检测时，载物台需要转动整一周，测量效率低；进行米波级到毫米波级频带之外的频带测量时，承载台每转动一个角度，需要摆臂转动一周以测得待测物单点辐射性能检测数据。但是由于摆臂的体积大重量大，为了保证装置的稳定性无法实现快速转动，因此测量效率较低。

发明内容

本发明的第一目的是提供一种宽频天线测量系统，其具有测量效率高的优点。

本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种宽频天线测量系统，包括间隔设置的多探头检测点和单探头检测点、在多探头检测点和单探头检测点之间移动且至少可旋转一周的承载台、环绕多探头检测点设置的多探头阵列检测装置、以及位于多探头阵列检测装置一侧并围绕单探头检测点设置的单探头检测装置，所述多探头阵列检测装置包括一组或多组呈环形阵列分布的第一探头，所述单探头检测装置包括围绕单探头检测点作圆弧形运动的第二探头，所述第一探头用于检测第一频段范围内的待测物的辐射性能，所述第二探头用于检测第一频段范围外的待测物的辐射性能。

通过采用上述技术方案，本系统调整承载台的位置，以使待测物位于多探头检测点，也就是第一探头形成的环形阵列的中心，对待测物进行检测获得辐射性能检测数据，再驱动承载台带动待测物转动一定角度，重复进行测量，直至旋转半周，相当于多探头阵列围绕被测物旋转，实现对被测物辐射强度的球面近场检测。

之后，调整承载台的位置，使得被测物位于单探头检测点，也就是第二探头圆弧形运动轨迹的中心，第二探头按固定步距作圆弧形运动，在运功轨迹的各个点上对被测物的辐射性能进行检测，将被测物各单点辐射性能检测数据汇总为一检测弧面的辐射特性检测数据。再驱动承载台转动一定角度，重复上述第二探头的测量步骤，直至承载台至少旋转一周，从而得到各个检测弧面的辐射特性检测数据，并结合形成球面近场检测数据。

现有技术，多探头检测阵列为半环设置，承载台需要转动至少一周才能获取得待测物的辐射强度近场球面检测数据，而系统中的多探头检测阵列为整环设置，承载台只需要转动半周即可获取得待测物的辐射强度近场球面检测数据。同时，在现有技术中，摆臂不仅尺寸较大重量高，安装时需要加固结构防止下垂变形，而且转动速率慢，相比而言，本系统通过移动第二探头进行检测，相比而言无须进行转动，移动速度快，检测效率高。