[发明专利]剂量调制

说明书

剂量调制。本发明涉及一种用于借助结构化的阳极或借助场发射阴极或借助指状的阴极头来确定X射线辐射的强度的方法，一种相关的X射线装置，一种相关的单X射线管计算机断层扫描仪，一种相关的双X射线管计算机断层扫描仪和一种相关的计算机程序产品。

技术领域

本发明涉及一种用于借助结构化的阳极或借助场发射阴极或借助指状阴极头来确定X射线辐射的强度的方法，一种相关的X射线装置，一种相关的单X射线管计算机断层扫描仪，一种相关的双X射线管计算机断层扫描仪和一种相关的计算机程序产品。

背景技术

借助X射线辐射对患者进行成像测量可能会需要对X射线辐射进行剂量调制。所述剂量调制通常对应于在成像测量期间尤其根据患者来调整X射线辐射的强度。通常能够借助于改变发射体的和/或发射体加热装置的加热电流来进行剂量调制。在常规的X射线管中，所述剂量调制的速度尤其受到X射线管的发射体的和/或发射体加热装置的热学特性的限制。例如，常规的扁平发射体能够借助于在发射体加热装置中流过的加热电流通过离开常规的发射体加热装置的加热电子而间接地加热，进而能够激发来自常规的扁平发射体的电子的发射。一种替选的扁平发射体或常规的发射体通常直接被加热电流穿流从而被激发以发射电子。

X射线辐射的强度变化越大，该过程就通常由于相对缓慢的热学特性而持续越长的时间。尤其，在常规的X射线管中，X射线辐射的强度的显著降低可能持续几个十分之一秒。如果例如在计算机断层扫描仪中使用常规的X射线管，那么在计算机断层扫描仪中在常规的X射线管的旋转时间中在亚秒范围内，在这种情况下，所述剂量调制并非始终立即适配于患者。

发明内容

本发明所基于的目的是，提出一种用于借助结构化的阳极或借助场发射阴极或借助指状的阴极头来确定X射线辐射的强度的方法，一种相关的X射线装置，一种相关的单X射线管计算机断层扫描仪，一种相关的双X射线管计算机断层扫描仪和一种相关的计算机程序产品，其中更快地确定X射线辐射的强度。

所述目的通过根据本发明的借助结构化的阳极或借助场发射阴极或借助指状的阴极头来确定X射线辐射的强度的方法，根据本发明的X射线装置，根据本发明的单X射线管计算机断层扫描仪，根据本发明的双X射线管计算机断层扫描仪和根据本发明的计算机程序产品来实现。在下文中描述了有利的设计方案。

根据本发明的用于借助结构化的阳极确定X射线辐射的强度的方法具有下述步骤：

-提供X射线管，所述X射线管具有结构化的阳极，所述结构化的阳极具有第一阳极微结构和第二阳极微结构，

-在控制单元中提供根据第一阳极微结构的第一X射线辐射强度特征数和根据第二阳极微结构的第二X射线辐射强度特征数，

-在控制单元中根据在成像测量时要检查的患者确定X射线辐射强度的第一期望值，

-在控制单元中根据X射线辐射强度的第一期望值，选择第一X射线辐射强度特征数或第二X射线辐射强度特征数作为第一期望值X射线辐射强度特征数，和

-为了生成X射线辐射，根据所选择的第一期望值X射线辐射强度特征数，将X射线管的电子束定向到第一阳极微结构或第二阳极微结构上，由此确定结构化的阳极的X射线辐射的强度。

用于借助结构化的阳极确定X射线辐射的强度的方法尤其提供下述优点：尤其相对于加热电流的变化，能够快速地确定X射线辐射强度。这尤其是由于，相对于常规的发射体的和/或常规的发射体加热装置的加热电流能够改变，和/或相对于电子的由于热学特性所引起的发射率能够根据加热电流的变化来调整，电子束通常能够更快地定向，即移动。相对于电子束的定向，加热电流的改变通常是缓慢的。有利的是，尽管不改变加热电流，但是能够确定或改变X射线辐射的强度，由此所发射的电子的数量通常保持恒定。也就是说，根据本发明的用于确定X射线辐射的强度的方法尤其对应于有利的剂量调制。