[发明专利]光学中心测试方法、装置及设备有效
申请号: | 202010431584.3 | 申请日: | 2020-05-20 |
公开(公告)号: | CN111586401B | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 王波;张瑞;赵新亚;杜松;章平;齐书 | 申请(专利权)人: | 重庆市天实精工科技有限公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
代理公司: | 重庆华科专利事务所 50123 | 代理人: | 谭小琴 |
地址: | 401120 重庆市渝北*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 中心 测试 方法 装置 设备 | ||
1.一种光学中心测试方法,其特征在于,基于摄像模组,所述摄像模组包括镜头与感光传感器,所述光学中心测试方法包括如下步骤:
步骤1,抓取预设图片中的若干特征物,所述特征物的形状包括规则图形和/或不规则图形;
步骤2,获取各特征物的中心坐标,通过计算拟合出各特征物中心坐标的中心连线所形成的图形的中心点坐标,并将其作为第一坐标;
步骤3,将所述摄像模组旋转180度,重复步骤1至步骤2,通过计算拟合出各特征物中心坐标的中心连线所形成的图形的中心点坐标,并将其作为第二坐标;
步骤4,分析所述第一坐标、所述第二坐标与所述预设图片的图像像素,通过将图像像素的宽减去第二坐标的X,图像像素的高减去第二坐标的Y,得到第二坐标的对称坐标,将所述对称坐标和第一坐标取平均值得到第三坐标,并将其作为校准标准坐标;
步骤5,将第一坐标、第二坐标与所述校准标准坐标进行比较,通过调整镜头使得第一坐标、第二坐标与校准标准坐标的值相等,进而实现所述镜头的光学中心与所述感光传感器的光学中心一致。
2.根据权利要求1所述的光学中心测试方法,其特征在于,所述预设图片包括光学中心测试图(1)与解析力图(2)。
3.一种光学中心测试装置,其特征在于,包括:
抓取模块,用于抓取预设图片中的若干个特征物,所述特征物的形状包括规则图形或不规则图形;
获取模块,用于获取各特征物的中心坐标,通过计算拟合出各特征物中心坐标的中心连线所形成的图形的中心点坐标,并将其作为第一坐标;
旋转计算模块,将所述摄像模组旋转180度,重复获取若干特征物的中心坐标,通过计算拟合出各特征物中心坐标的中心连线所形成的图形的中心点坐标,并将其作为第二坐标;
分析计算模块,用于分析所述第一坐标、所述第二坐标与所述预设图片的图像像素,通过将图像像素的宽减去第二坐标的X,图像像素的高减去第二坐标的Y,得到第二坐标的对称坐标,将所述对称坐标和第一坐标取平均值得到第三坐标,并将其作为校准标准坐标;
比较调整模块,将第一坐标、第二坐标与所述校准标准坐标进行比较,通过调整镜头使得第一坐标、第二坐标与校准标准坐标的值相等,进而实现所述镜头的光学中心与所述感光传感器的光学中心一致。
4.一种图像采集设备,其特征在于,包括:摄像模组以及权利要求3所述的光学中心测试装置,所述摄像模组包括镜头和感光传感器,用于采集图像;所述光学中心测试装置用于测试所述摄像模组的光学中心。
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