[发明专利]光学中心测试方法、装置及设备

说明书

本发明提供了一种光学中心测试方法、装置及设备，包括如下步骤：首先抓取预设图片中的若干特征物，再获取若干特征物的坐标，通过计算拟合出若干特征物的中心坐标并将其作为第一坐标；再将摄像模组旋转180度，重新获取若干特征物的坐标，通过计算拟合出若干特征物的中心坐标并将其作为第二坐标；接着分析所述第一坐标、第二坐标与预设图片的图像，通过计算得到若干特征物的理论坐标并将其作为校准标准坐标；最后将第一坐标、第二坐标与所述校准标准坐标进行比较，通过调整镜头使镜头的光学中心与感光传感器的光学中心一致。相对于传统测试方法，本发明对光源测试环境要求降低，能够在非白场环境下进行测试，提高了测试精度与产品的良率。

技术领域

本发明涉及摄像头技术领域，具体涉及一种光学中心测试方法、装置及设备。

背景技术

随着科学技术的进步，摄像头的应用越来越广泛，一些行业对摄像头的制作工艺提出了更高的要求。摄像头主要由镜头(LENS)和图像传感器(SENSOR)组成，其中镜头由几片透镜组成；图像传感器可以分为两类：CCD、CMOS。光线从外界透过镜头，映射在图像传感器上形成图像。理论上镜头的中心是对准图像传感器的中心的，但是由于工艺制作过程中加工仪器的精度不足，镜头的中心与图像传感器的中心之间存在一定的偏离。摄像头拍摄过程中透镜的位置被称为光学中心。

目前市面上涌现出各种不同品牌的手机，其中,手机摄像头是终端厂商的创新方向中最重要的一个方向，数量上从单摄到双摄到三摄到华为P30Pro的四摄，功能上从单一的图像提升发展成大光圈、超广角、潜望式长焦、TOF等特色镜头的引入。保证多摄之间光学中心的精确度决定了模组的光学性能和产品制造的良率，因此，对多个摄像头的光学中心测试显得更加重要。而传统方法对摄像头的光轴偏差测试是使用白场测试亮度，将亮度按照梯度拟合出光学中心。但是该方法有一定的局限性，且精度不够高，需要单独的白场环境进行测试，效率较低，会增加成本。

因此，有必要开发一种新的光学中心测试方法、装置及设备。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种光学中心测试方法、装置及设备，用于解决传统测试光学中心需要单独的白场测试环境，且精确度不高的技术问题。

第一方面，本发明提供了一种光学中心测试方法，基于摄像模组，所述摄像模组包括镜头与感光传感器，所述光学中心测试方法包括如下步骤：

步骤1，抓取预设图片中的若干特征物，所述特征物的形状包括规则图形和/或不规则图形；

步骤2，获取各特征物的中心坐标，通过计算拟合出各特征物中心坐标的中心连线所形成的图形的中心点坐标，并将其作为第一坐标；

步骤3，将所述摄像模组旋转180度，重复步骤1至步骤2，各特征物中心坐标的中心连线所形成的图形的中心点坐标，并将其作为第二坐标；

步骤4，分析所述第一坐标、所述第二坐标与所述预设图片的图像像素，通过将图像像素的宽减去第二坐标的X，图像像素的高减去第二坐标的Y，得到第二坐标的对称坐标，将所述对称坐标和第一坐标取平均值得到第三坐标，并将其作为校准标准坐标；

步骤5，将第一坐标、第二坐标与所述校准标准坐标进行比较，通过调整镜头使得第一坐标、第二坐标与校准标准坐标的值相等，进而实现所述镜头的光学中心与所述感光传感器的光学中心一致。

进一步地，所述预设图片包括光学中心测试图与解析力图。