[发明专利]一种半导体元件的固晶工艺及半导体元件及电子产品在审
申请号: | 202010432260.1 | 申请日: | 2020-05-21 |
公开(公告)号: | CN111640724A | 公开(公告)日: | 2020-09-08 |
发明(设计)人: | 王琇如 | 申请(专利权)人: | 杰群电子科技(东莞)有限公司 |
主分类号: | H01L23/492 | 分类号: | H01L23/492;H01L21/603 |
代理公司: | 北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11638 | 代理人: | 王新爱 |
地址: | 523000 广东省东莞*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 元件 工艺 电子产品 | ||
1.一种半导体元件的固晶工艺,其特征在于,包括以下步骤:
S1、提供载体(100),提供具有芯片焊接部的铜制载体(100),并在所述铜制载体(100)上的所述芯片焊接部设置锡材料(300);
S2、贴片,采用贴片机将芯片(400)黏贴在所述芯片焊接部。
2.根据权利要求1所述的半导体元件的固晶工艺,其特征在于,所述贴片机采用热贴片机,所述热贴片机的芯片焊接部加热到200至500℃对芯片(400)进行贴片键合。
3.根据权利要求1所述的半导体元件的固晶工艺,其特征在于,所述贴片机为芯片抓取装置,所述贴片过程中,在所述铜制载体(100)的底部对应所述芯片焊接部的位置进行加热,使所述锡材料(300)的温度达到200至500℃。
4.根据权利要求3所述的半导体元件的固晶工艺,其特征在于,所述铜制载体(100)上设置有凹槽(200),所述芯片焊接部位于所述凹槽(200)中。
5.根据权利要求4所述的半导体元件的固晶工艺,其特征在于,步骤S1提供载体(100)还包括步骤S11、表面处理,对所述铜制载体(100)表面进行去氧化处理。
6.根据权利要求1所述的半导体元件的固晶工艺,其特征在于,所述锡材料(300)通过电镀液电镀的方式设置在所述芯片焊接部。
7.根据权利要求6所述的半导体元件的固晶工艺,其特征在于,所述电镀液采用甲基磺酸和甲基磺酸锡配置而成。
8.根据权利要求7所述的半导体元件的固晶工艺,其特征在于,所述电镀液中H+离子的含量为120至140g/L,Sn2+离子的含量为12至15g/L,所述电镀液的温度为23至25℃。
9.一种半导体元件,其特征在于,采用权利要求1-8中任一项所述的半导体元件的固晶工艺加工而成。
10.一种电子产品,其特征在于,具有权利要求1-8中任一项所述的半导体元件的固晶工艺加工而成的半导体产品。
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