[发明专利]一种测试样机的平面位置自动校验方法、系统及设备

权利要求书

1.一种测试样机的平面位置自动校验方法，其特征在于，包括：

将被测标准样机安装在既定位置，进行位置校准后拍摄所述被测标准样机作为标准安装图像，并根据所述标准安装图像建立标准标定信息库；

将被测样机安装在所述既定位置，实时拍摄所述被测样机，得到实时安装图像；

根据所述标准标定信息库调整所述被测样机的安装位置，使得所述实时安装图像与所述标准安装图像一致。

2.如权利要求1所述的一种测试样机的平面位置自动校验方法，其特征在于，所述根据所述标准安装图像建立标准标定信息库，具体包括：

对所述标准安装图像进行空间标定，获取所述被测标准样机的图片像素值，并结合其实际物理尺寸，生成图像转换比例；

建立图像坐标系，并在所述标准安装图像上选择多个标准参照点，获取对应的坐标信息建立测试条件。

3.如权利要求2所述的一种测试样机的平面位置自动校验方法，其特征在于，所述在所述标准安装图像上选择多个标准参照点，获取对应的坐标信息建立测试条件，具体包括：

对所述标准安装图像进行灰度化处理，任意选取其中一个点作为第一标准参照点，选取所述第一标准参照点周围的区域制作标准感兴趣区域，并设定相应的相似度阈值作为第一测试条件；

在所述图像坐标系中选取第二标准参照点和第三标准参照点，并获取二者之间的距离作为第二测试条件。

4.如权利要求3所述的一种测试样机的平面位置自动校验方法，其特征在于，所述根据所述标准标定信息库调整所述被测样机的安装位置，使得所述实时安装图像与所述标准安装图像一致，具体包括：

基于与标准安装图像相同的图像处理过程，确定与所述第一标准参照点、第二标准参照点和第三标准参照点对应的第一校准参照点、第二校准参照点和第三校准参照点，以及对应于所述实时安装图像的测试感兴趣区域；

将所述标准感兴趣区域、第二校准参照点和第三校准参照点与所述测试感兴趣区域、第二标准参照点和第三标准参照点进行对比，根据对比结果调整所述被测样机的安装位置。

5.如权利要求4所述的一种测试样机的平面位置自动校验方法，其特征在于，所述将所述标准感兴趣区域、第二校准参照点和第三校准参照点与所述测试感兴趣区域、第二标准参照点和第三标准参照点进行对比，根据对比结果调整所述被测样机的安装位置，具体包括：

对比所述标准感兴趣区域与所述测试感兴趣区域，得到对比相似度，当所述对比相似度不满足所述第一测试条件时，按照第一预设移动速度、第一预设移动间距调整所述被测样机垂直方向的安装位置，直至满足所述第一测试条件；

获取第二校准参照点和第三校准参照点之间的距离，与所述第二测试条件进行比对得到比对结果，当所述比对结果不满足所述第二测试条件时，以第二预设移动速度、第二预设移动间距分别调整所述被测样机的横向安装位置和纵向安装位置，直至满足所述第二测试条件。

6.如权利要求3所述的一种测试样机的平面位置自动校验方法，其特征在于：所述第二标准参照点为所述标准安装图像中除所述被测标准样机区域外的任意一点，所述第一标准参照点和第三标准参照点为在所述标准安装图像中所述被测样机区域内任意选取的两点。

7.如权利要求5所述的一种测试样机的平面位置自动校验方法，其特征在于：

还包括，当所述实时安装图像满足所述第一测试条件和所述第二测试条件后，保存所述被测样机安装位置的坐标信息并更新所述既定位置。