[发明专利]一种外参变化检测方法、装置、电子设备及检测系统在审
申请号: | 202010436800.3 | 申请日: | 2020-05-21 |
公开(公告)号: | CN113701745A | 公开(公告)日: | 2021-11-26 |
发明(设计)人: | 万富华;吕吉鑫;孙杰 | 申请(专利权)人: | 杭州海康威视数字技术股份有限公司 |
主分类号: | G01C21/16 | 分类号: | G01C21/16;G01S13/86;G01S17/86;G01S19/47 |
代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 马敬;丁芸 |
地址: | 310051 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 变化 检测 方法 装置 电子设备 系统 | ||
1.一种外参变化检测方法,其特征在于,所述方法包括:
获取多个传感器中任两个传感器在不同时刻的各位姿数据;
根据所述各位姿数据,确定所述任两个传感器的位姿变化差异;
若所述位姿变化差异达到预设差异程度,则确定所述任两个传感器的外参发生变化。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取多个传感器中任两个传感器在不同时刻的各位姿数据,包括:
获取多个传感器中任两个传感器在不同时刻采集的各传感器数据;
利用所述各传感器数据的类型对应的数据转换策略,将所述各传感器数据转换为位姿数据。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述根据所述各位姿数据,确定所述任两个传感器的位姿变化差异之前,所述方法还包括:
获取所述各位姿数据的时间戳;
以所述任两个传感器中第一传感器的各位姿数据的时间戳为目标,利用预设的插值算法,对所述任两个传感器中第二传感器的各位姿数据进行插值运算,其中,所述第一传感器的输出频率小于所述第二传感器的输出频率;
所述根据所述各位姿数据,确定所述任两个传感器的位姿变化差异,包括:
根据插值运算后的所述各位姿数据,确定所述任两个传感器的位姿变化差异。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述根据所述各位姿数据,确定所述任两个传感器的位姿变化差异之前,所述方法还包括:
获取针对所述任两个传感器预先标定的外参;
根据所述外参,将所述各位姿数据转换至同一坐标系下;
所述根据所述各位姿数据,确定所述任两个传感器的位姿变化差异,包括:
根据坐标系转换后的所述各位姿数据,确定所述任两个传感器的位姿变化差异。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在所述根据所述外参,将所述各位姿数据转换至同一坐标系下之后,所述方法还包括:
根据坐标系转换后的所述各位姿数据,计算所述任两个传感器在不同时刻的各相对位姿,其中,所述相对位姿包括当前时刻的位姿数据相对于上一时刻的位姿数据的平移量;
针对任一传感器,对该传感器在不同时刻的各平移量进行求和,得到该传感器的平移量累加结果;
计算所述任两个传感器的平移量累加结果之间的比例,得到尺度因子;
根据所述尺度因子,对所述任两个传感器的变化尺度进行统一,得到变化尺度统一后的所述各位姿数据;
所述根据所述各位姿数据,确定所述任两个传感器的位姿变化差异,包括:
根据变化尺度统一后的所述各位姿数据,确定所述任两个传感器的位姿变化差异。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述各位姿数据,确定所述任两个传感器的位姿变化差异,包括:
根据所述各位姿数据,计算所述任两个传感器在不同时刻的各相对位姿,其中,所述相对位姿包括当前时刻的位姿数据相对于上一时刻的位姿数据的相对姿态角度;
根据所述各相对位姿,计算所述任两个传感器在不同时刻的各相对位姿偏差,所述相对位姿偏差包括姿态偏差及平移偏差;
根据各相对姿态角度,计算所述任两个传感器在不同时刻的各姿态偏差权重及各平移偏差权重;
根据所述任两个传感器在不同时刻的各姿态偏差权重及各平移偏差权重,对所述任两个传感器在不同时刻的各姿态偏差和各平移偏差进行加权求和,得到所述任两个传感器的外参变化评分结果,所述外参变化评分结果表征了所述任两个传感器的位姿变化差异;
所述若所述位姿变化差异达到预设差异程度,则确定所述任两个传感器的外参发生变化,包括:
若所述外参变化评分结果大于预设阈值,则确定所述任两个传感器的外参发生变化。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在所述若所述外参变化评分结果大于预设阈值,则确定所述任两个传感器的外参发生变化之后,所述方法还包括:
将所述外参变化评分结果作为检测置信度进行输出。
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