[发明专利]测试方法及测试系统有效
申请号: | 202010437379.8 | 申请日: | 2020-05-21 |
公开(公告)号: | CN111983338B | 公开(公告)日: | 2023-07-28 |
发明(设计)人: | 纪家铭 | 申请(专利权)人: | 仁宝电脑工业股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R29/08 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 张娜;刘芳 |
地址: | 中国台湾台北市内湖*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 方法 系统 | ||
1.一种测试方法,包括:
将待测装置区分为多个第一测试区域,针对所述待测装置的各所述第一测试区域进行电磁测试,以由所述多个第一测试区域中判断出所述待测装置中包括第一选中区域的至少一异常区域,其中所述第一选中区域为进行所述电磁测试的过程中造成所述待测装置产生异常的区域;以及
依据所述待测装置的所述至少一异常区域的待修正结构以及所述至少一异常区域所对应的异常条件查询智能数据库,其中所述智能数据库记录有多笔历史资料,以由所述多笔历史资料中判断出与所述待测装置发生异常的关联性较高者作为建议修正结构。
2.根据权利要求1所述的测试方法,其中所述电磁测试包括电磁耐受性测试及电磁干扰性测试的至少其中一者。
3.根据权利要求1所述的测试方法,其中所述电磁测试为电磁耐受性测试,其中针对各所述第一测试区域依序进行所述电磁测试,以由所述多个第一测试区域中判断出所述第一选中区域以作为所述至少一异常区域的步骤包括:
施加电磁信号于各所述第一测试区域,并依序递增所述电磁信号的能量以于各所述第一测试区域进行多次测试;以及
在监测到所述待测装置发生异常状态时,记录所述待测装置发生异常状态时,施加于各所述第一测试区域的所述电磁信号的能量。
4.根据权利要求3所述的测试方法,还包括:
当所记录的施加于各所述第一测试区域的所述电磁信号的能量小于或等于第一预设能量时,选择对应的各所述第一测试区域为所述第一选中区域,并记录所述电磁信号的能量。
5.根据权利要求3所述的测试方法,其中所述异常状态为所述待测装置发生图像显示异常、网络连线异常及音效播放异常的至少其中一者。
6.根据权利要求4所述的测试方法,其中还包括:
将所述第一选中区域区分为多个第二测试区域,并针对各所述第二测试区域进行所述电磁测试,以由所述多个第二测试区域中判断出第二选中区域以作为第二异常区域。
7.根据权利要求6所述的测试方法,其中由所述多个第二测试区域中判断出所述第二选中区域的步骤包含:
施加电磁信号于各所述第二测试区域,并依序递增所述电磁信号的能量以于各所述第二测试区域进行多次测试;
在监测到所述待测装置发生异常状态时,记录所述待测装置发生异常状态时,施加于各所述第二测试区域的所述电磁信号的能量;以及
当所记录的施加于各所述第二测试区域的所述电磁信号的能量小于或等于第二预设能量时,选择对应的各所述第二测试区域为所述第二选中区域,并记录所述电磁信号的能量,
其中所述第二预设能量小于所述第一预设能量。
8.根据权利要求1所述的测试方法,其中所述电磁测试为电磁干扰性测试,针对各所述第一测试区域依序进行所述电磁测试,以由所述多个第一测试区域中判断出所述第一选中区域以作为所述至少一异常区域的步骤包括:
依序测量各所述第一测试区域所发出的干扰强度;以及
在测量到所述干扰强度大于或等于预设干扰强度时,选择对应的各所述第一测试区域为所述第一选中区域。
9.根据权利要求1所述的测试方法,其中依据所述待测装置的所述至少一异常区域的所述待修正结构以及所述至少一异常区域所对应的所述异常条件查询所述智能数据库的步骤还包括:
依据所述至少一异常区域标记出所述待测装置的所述待修正结构;以及
依据所述待修正结构执行人工智能算法以查询所述智能数据库。
10.根据权利要求1所述的测试方法,其中所述智能数据库包括电路数据库、布局数据库以及机构数据库。
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