[发明专利]测试方法及测试系统

说明书

本发明提供一种测试方法及测试系统。测试方法包含针对待测装置进行电磁测试，以判断出待测装置中的至少一异常区域；以及执行人工智能算法以依据待测装置的至少一异常区域查询智能数据库，以取得建议修正结构。

技术领域

本发明涉及一种方法及系统，尤其涉及一种测试方法及测试系统。

背景技术

现有技术在针对待测装置进行电磁相容性测试(ElectromagneticCompatibility，EMC)时，其感测的过程无法自动化地针对待测装置的每个区域进行感测，来判断出待测装置的每个区域是否皆符合电磁相容性的规范。即使，在判断出待测装置的特定区域不符合电磁相容性的规范之后，现有技术更需仰赖人力通过盲目地尝试错误的设计过程来逐步修正待测装置。故现有技术在待测装置的测试流程以及修正流程上，都有改善的必要。

发明内容

本发明提供一种测试方法及测试系统，有效率地针对待测装置进行电磁测试，并提供建议修正结构，以改善现有技术的缺点。

本发明的测试方法包含针对待测装置进行电磁测试，以判断出待测装置中的至少一异常区域；以及执行人工智能算法以依据待测装置的至少一异常区域查询智能数据库，以取得建议修正结构。

本发明的测试系统，适于针对待测装置进行测试，测试系统包含测试装置、主控装置及运算电路。测试装置耦接待测装置。测试装置用来向待测装置进行电磁测试。主控装置耦接测试装置。主控装置控制测试装置以进行电磁测试，并判断出待测装置中的至少一异常区域。运算电路耦接主控装置并存储有智能数据库。运算电路执行人工智能算法以依据待测装置的异常区域查询智能数据库，以取得建议修正结构。

基于上述，测试方法及测试系统可有效率地针对待测装置进行电磁测试，并通过人工智能算法查询智能数据库以提供建议修正结构，进而改善现有技术的缺点。

附图说明

图1为本发明实施例一测试系统的方块图；

图2A为本发明实施例一测试方法的流程图；

图2B为本发明实施例一测试方法的示意图；

图3A为本发明实施例在判断一待测装置的第一未选中区域及第一选中区域的示意图；

图3B为本发明实施例一在判断待测装置的第一未选中区域及第一选中区域的示意图；

图3C为本发明实施例在判断一待测装置的第一未选中区域及第一选中区域的示意图；

图3D为本发明实施例在判断一待测装置的第二未选中区域及第二选中区域的示意图；

图3E为本发明实施例在判断一待测装置的第三未选中区域及第三选中区域的示意图；

图3F为本发明实施例在标记一待测装置中的待修正结构的示意图。

附图标记说明

1：修正系统

10：测试装置

11：主控装置

12：运算电路

120：智能数据库

121：电路数据库

122：布局数据库

123：机构数据库

2、2a、2b、2c、2d：待测装置

S20、S21、S22～S24：步骤

A1、A3、A5：第一未选中区域

A1-1～A1-3、A5-1～A5-3、A7-1、A7-2、A9-1、A9-2：区域