[发明专利]非破坏检查装置在审

专利信息
申请号: 202010439967.5 申请日: 2020-05-22
公开(公告)号: CN112649448A 公开(公告)日: 2021-04-13
发明(设计)人: 福田贤次郎;篠原正治;半杭秀一 申请(专利权)人: 东芝IT·控制系统株式会社
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01B15/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马爽;臧建明
地址: 日本东京新宿区西新宿六丁*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 破坏 检查 装置
【权利要求书】:

1.一种非破坏检查装置,包括:

两个放射线发生器,对具有四个角的被检查物照射放射线束;以及

两个放射线检测器,分别与两个所述放射线发生器相向而设置,

所述放射线束的光轴在所述被检查物的近前交叉,通过所述被检查物的四个角中的所述放射线发生器侧的两个角。

2.根据权利要求1所述的非破坏检查装置,还包括:

检查台,载置所述被检查物;以及

摄像部,对所述被检查物进行拍摄,

所述检查台包括移动机构,

所述移动机构基于所述摄像部所拍摄的图像,使所述两个角与所述放射线束的光轴对准。

3.根据权利要求2所述的非破坏检查装置,其中

所述检查台包括旋转机构,

所述旋转机构使所述被检查物的四个角中的与所述放射线发生器相反侧的两个角朝向所述放射线发生器侧。

4.根据权利要求2或3所述的非破坏检查装置,还包括:

搬送机构,分别设置在所述检查台的搬入侧及搬出侧,且在以固定的间隔排列多个所述被检查物的状态下进行搬送;以及

移送机构,将载置于所述搬入侧的所述搬送机构的所述被检查物移送到所述检查台,且将载置于所述检查台的所述被检查物移送到所述搬出侧的所述搬送机构,同时移送所述被检查物两者。

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